[发明专利]双端口存储单元有效

专利信息
申请号: 201480042164.9 申请日: 2014-03-06
公开(公告)号: CN105409000B 公开(公告)日: 2018-08-07
发明(设计)人: R·C·卡马洛塔 申请(专利权)人: 赛灵思公司
主分类号: H01L27/11 分类号: H01L27/11;G11C8/16;H01L29/78;H01L27/088
代理公司: 北京市君合律师事务所 11517 代理人: 顾云峰;吴龙瑛
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 公开了一种多端口存储单元,其包括第一(P1+N1)和第二(P2+N2)交叉耦接的反相器电路。每个反相器电路的输入节点(150/180)被耦接到另一个反相器电路的输出节点(180/150)以接收另一个反相器电路的反相输出。多端口存储单元包括第一对第一类型存取晶体管(P3,P4),每个存取晶体管都耦接到第一和第二反相器电路中的各自的一个反相器电路的输入节点(150,180)。多端口存储单元还包括第二对第二类型存取晶体管(N3,N4),每个存取晶体管都耦接到第一和第二反相器电路中的各自的一个反相器电路的输入节点(150,180)。多端口单元展现了布局紧凑性和SEU耐受度方面的优点。
搜索关键词: 端口 存储 单元
【主权项】:
1.一种多端口存储器单元,其特征在于,包括:基底;第一和第二反相器电路,每个反相器电路包括第一类型的上拉晶体管和第二类型的下拉晶体管;其中在每个反相器电路中:所述上拉晶体管的栅极和所述下拉晶体管的栅极均耦接到第一节点,并且接收相同的电压电位,所述上拉晶体管的源极和所述下拉晶体管的漏极被串联耦接,并且在所述上拉晶体管和所述下拉晶体管之间的第二节点处提供反相输出;以及每个反相器电路的第一节点被耦接到另一个反相器电路的第二节点,以接收所述另一个反相器电路的反相输出;第一对第一类型的存取晶体管,该对存取晶体管中的每一个存取晶体管均将其源极或漏极耦接到所述第一和第二反相器电路中各自的一个反相器电路的第一节点;以及第二对第二类型的存取晶体管,该对存取晶体管中的每一个存取晶体管均将其源极或漏极耦接到所述第一和第二反相器电路中各自的一个反相器电路的第一节点;其中所述上拉晶体管、下拉晶体管和存取晶体管是鳍式场效应晶体管,其由以下设置形成:位于所述基底中的多个阱区,所述多个阱区在第一方向y上平行地延伸,所述多个阱区中的每一个阱区均具有布置在所述阱区上的各自的一组鳍结构,各自的一组鳍结构中的每个鳍结构在所述第一方向y上延伸;以及多个栅极结构,每个栅极结构布置在多组鳍结构中的一组或多组鳍结构上方,并且在与所述第一方向y垂直的第二方向x上延伸,所述鳍结构和所述栅极结构被配置和设置为形成所述鳍式场效应晶体管,每个鳍式场效应晶体管具有源极或漏极,其被与具有与所述第一或第二类型中相同类型的鳍式场效应晶体管中的另一个鳍式场效应晶体管的源极或漏极共用;以及其中所述第一类型的晶体管的栅极尺寸与所述第二类型的晶体管的栅极尺寸相同。
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