[发明专利]感应型位置检测装置在审

专利信息
申请号: 201480033193.9 申请日: 2014-06-13
公开(公告)号: CN105308418A 公开(公告)日: 2016-02-03
发明(设计)人: 后藤太辅;坂元和也;坂本宏;汤浅康弘 申请(专利权)人: 株式会社阿米泰克
主分类号: G01D5/20 分类号: G01D5/20;G01B7/00
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 何立波;张天舒
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 线圈部(10)包含:1次线圈(11),其由交流信号励磁;以及2次线圈(12~15),其配置为产生由该1次线圈引起的感应输出。由电感要素和电容器构成的自激振荡电路(20)将所述1次线圈(11)作为用于进行自激振荡的电感要素而组装于其电路内。目标部(1)配置为,与检测对象位置相应地使与线圈部(10)之间的相对位置进行位移,包含磁响应部件,该磁响应部件构成为,与该相对位置相应地使2次线圈(12~15)的电感变化。对2次线圈(12~15)的输出信号的振幅电平进行提取,基于此获得检测对象的位置数据。
搜索关键词: 感应 位置 检测 装置
【主权项】:
1.一种感应型位置检测装置,其具有:线圈部,其包含1次线圈以及2次线圈,该1次线圈由交流信号励磁,该2次线圈配置为,产生由所述1次线圈得到的感应输出;自激振荡电路,其由所述线圈部所包含的所述1次线圈和电容器构成,该自激振荡电路将所述1次线圈作为用于进行自激振荡的电感要素而组装;目标部,其配置为,与检测对象位置相应地使与所述线圈部之间的相对位置进行位移,由磁响应部件构成,该磁响应部件构成为,与该相对位置相应地使所述线圈部内的所述2次线圈的电感变化;以及输出电路,其基于所述2次线圈的输出信号的振幅电平,对所述检测对象的位置数据进行输出,作为所述自激振荡电路,将其振荡频率设定在大于或等于几百kHz的高频频带,所述2次线圈仅包含2对2次线圈,基于一个1对2次线圈的合成输出信号,针对检测对象位置而表示正弦函数特性,基于另一个1对2次线圈的合成输出信号,针对检测对象位置而表示余弦函数特性。
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