[发明专利]感应型位置检测装置在审
申请号: | 201480033193.9 | 申请日: | 2014-06-13 |
公开(公告)号: | CN105308418A | 公开(公告)日: | 2016-02-03 |
发明(设计)人: | 后藤太辅;坂元和也;坂本宏;汤浅康弘 | 申请(专利权)人: | 株式会社阿米泰克 |
主分类号: | G01D5/20 | 分类号: | G01D5/20;G01B7/00 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 何立波;张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 感应 位置 检测 装置 | ||
1.一种感应型位置检测装置,其具有:
线圈部,其包含1次线圈以及2次线圈,该1次线圈由交流信号励磁,该2次线圈配置为,产生由所述1次线圈得到的感应输出;
自激振荡电路,其由所述线圈部所包含的所述1次线圈和电容器构成,该自激振荡电路将所述1次线圈作为用于进行自激振荡的电感要素而组装;
目标部,其配置为,与检测对象位置相应地使与所述线圈部之间的相对位置进行位移,由磁响应部件构成,该磁响应部件构成为,与该相对位置相应地使所述线圈部内的所述2次线圈的电感变化;以及
输出电路,其基于所述2次线圈的输出信号的振幅电平,对所述检测对象的位置数据进行输出,
作为所述自激振荡电路,将其振荡频率设定在大于或等于几百kHz的高频频带,
所述2次线圈仅包含2对2次线圈,
基于一个1对2次线圈的合成输出信号,针对检测对象位置而表示正弦函数特性,基于另一个1对2次线圈的合成输出信号,针对检测对象位置而表示余弦函数特性。
2.根据权利要求1所述的位置检测装置,其中,
所述输出电路包含对所述2次线圈的输出信号进行整流的整流电路、以及对所述整流电路的输出直流信号的电平进行偏置调整并且对其增益进行调整的电路。
3.根据权利要求1所述的感应型位置检测装置,其中,
所述1次及2次线圈由在印刷基板上形成为螺旋状的扁平线圈构成。
4.根据权利要求3所述的感应型位置检测装置,其中,
构成1个所述1次或2次线圈的所述扁平线圈,由将重叠排列为多层状的多个扁平线圈部分串联连接而成的结构构成。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的感应型位置检测装置,其中,
所述检测对象在旋转方向上进行位移,作为旋转位置检测装置而构成。
6.一种多旋转感应型位置检测装置,其具有:
第1旋转位置检测装置,其由权利要求1至4中任一项的感应型位置检测装置构成;
第2旋转位置检测装置,其由权利要求1至4中任一项的感应型位置检测装置构成;以及
传递单元,其将所述检测对象的旋转位移以不同的传递比向所述第1及第2旋转位置检测装置进行传递,
通过所述第1及第2旋转位置检测装置的检测输出的组合,能够进行经过多圈旋转的绝对位置检测。
7.根据权利要求1至4中任一项所述的感应型位置检测装置,其中,
所述检测对象在直线方向上进行位移,作为直线位置检测装置而构成。
8.根据权利要求1至4中任一项所述的感应型位置检测装置,其中,
所述检测对象以圆弧状进行位移,作为斜率检测装置而构成。
9.根据权利要求1至4中任一项所述的感应型位置检测装置,其中,
所述目标部的所述磁响应部件形成为由非磁性良导电体构成的弯曲或者弯折的线状。
10.根据权利要求9所述的感应型位置检测装置,其中,
所述形成为线状的所述磁响应部件形成闭合环路,以使得流过由所述1次线圈的磁场产生的感应电流。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社阿米泰克,未经株式会社阿米泰克许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201480033193.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。