[发明专利]感应型位置检测装置在审
申请号: | 201480033193.9 | 申请日: | 2014-06-13 |
公开(公告)号: | CN105308418A | 公开(公告)日: | 2016-02-03 |
发明(设计)人: | 后藤太辅;坂元和也;坂本宏;汤浅康弘 | 申请(专利权)人: | 株式会社阿米泰克 |
主分类号: | G01D5/20 | 分类号: | G01D5/20;G01B7/00 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 何立波;张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 感应 位置 检测 装置 | ||
线圈部(10)包含:1次线圈(11),其由交流信号励磁;以及2次线圈(12~15),其配置为产生由该1次线圈引起的感应输出。由电感要素和电容器构成的自激振荡电路(20)将所述1次线圈(11)作为用于进行自激振荡的电感要素而组装于其电路内。目标部(1)配置为,与检测对象位置相应地使与线圈部(10)之间的相对位置进行位移,包含磁响应部件,该磁响应部件构成为,与该相对位置相应地使2次线圈(12~15)的电感变化。对2次线圈(12~15)的输出信号的振幅电平进行提取,基于此获得检测对象的位置数据。
技术领域
本发明涉及一种感应型位置检测装置,其由将励磁用的1次线圈作为自激振荡电路的电感要素组装而成的结构构成,并且涉及一种感应型位置检测装置,其中,由在印刷基板上形成为螺旋状的扁平线圈构成1次线圈及2次线圈,该感应型位置检测装置利用将由扁平线圈构成的1次线圈作为自激振荡电路的电感要素组装而成的结构构成,该感应型位置检测装置能够在微小位移检测装置、直线位置检测装置、旋转位置检测装置、斜率检测装置等任意类型的位置检测中进行应用。
背景技术
关于将线圈(电感要素)作为检测要素而进行使用的位置检测装置,当前已知各种类型的位置检测装置。在该多种位置检测装置中,通过专用地具备用于线圈励磁的交流信号源,将从该交流信号源产生的交流信号施加于线圈,从而对该线圈进行交流励磁。在当前公知的感应型位置检测装置中,例如存在下述专利文献1及2所示的装置,以具有1次线圈和2次线圈、利用交流信号对1次线圈进行励磁、在2次线圈中感应出与其相应的2次输出信号的方式而构成,与相应于检测对象位置而进行位移的磁响应部件(例如铁或者铜等)相对于线圈的相对位移相应地,使2次线圈的电感变化,产生与位置相应的输出信号。在该情况下,将振荡电路与线圈独立地设置,该振荡电路用于振荡出交流信号,该交流信号用于对1次线圈进行励磁。对此,还已知下述接近传感器,即,通过利用LC振荡电路的原理,将作为检测要素的线圈作为自激振荡电路的电感要素而组装,从而不需要专用的励磁用交流信号源(例如专利文献3)。由于该种自激振荡型的接近传感器不需要设置专用的励磁用交流信号源,因此能够对装置结构进行小型化,因而是有利的。但是,现有的自激振荡型的接近传感器由对与检测对象的接近相应的振荡频率的变动进行检测的结构构成,因此需要频率辨别电路。另外,现有的自激振荡型的接近传感器是适合于对振荡频率的变动进行检测的结构,但并非是能够基于振荡输出信号的振幅电平而对检测对象的位置进行检测的结构。
另一方面,如果从其他角度研究装置结构的小型化这一课题,则存在将印刷基板上配置为螺旋状的小扁平线圈作为检测要素进行使用的方法,作为一个例子,能够举出专利文献2中示出的例子。在使用了上述扁平线圈的位置检测装置中,由于与通常的圆筒线圈相比,1个线圈的匝数相当少,因此难以得到足以进行检测的磁通,因此在专利文献4中进行了多层状地设置扁平线圈的改进。
专利文献1:日本特开平9-53909号公报
专利文献2:日本特开平10-153402号公报
专利文献3:日本特开平10-173437号公报
专利文献4:日本特开2010-122012号公报
发明内容
本发明的主要目的在于,在使用了1次及2次线圈的感应型位置检测装置中,推进整体装置结构的简化及小型化。附加目的在于,通过将印刷基板上形成为螺旋状的扁平线圈作为检测要素进行使用,从而采用更简化的结构,以及在该情况下,使得能够对经常不足的磁通进行补充。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社阿米泰克,未经株式会社阿米泰克许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201480033193.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。