[发明专利]用于测量X射线图像设备和X射线检测器中的X射线剂量参数的装置

摘要

本发明涉及一种用于测量X射线剂量参数的装置(205，2051，2052，2053，2054，2055，305，405)。所述装置包括用于检测所述X射线剂量的检测器(3051，3052)。所述装置被配置为定位在邻近X射线源(201)的位置中，所述X射线源被布置成产生具有用于辐射对象(206)的主要射线部分的射线阵式，其中所述位置以这种方式选取，该方式使得减小或消除时再现图像的干扰。

主权项

1.一种使用在X射线检查设备中用于对待检查的对象进行成像的X射线检查装置(205，2051，2052，2053，2054，2055，305，405)，所述X射线检查设备包括适于提供成像场的X射线源，所述成像场为将要辐射待检查的对象的X射线阵式，所述X射线检查装置包括被配置为测量包括X射线剂量的至少一个放射性参数的传感器部件(3051)，其特征在于，X射线检查装置定位在邻近所述X射线源(201)的位置中，其中所述位置在主要射线部分中使得减小或消除对再现图像的干扰，以及所述X射线检查装置包括：壳体(207，3053)，包封在所述壳体中的所述传感器部件，所述传感器部件包括许多层叠的二极管层(30511)，每个二极管层彼此间隔，并且在每个二极管层之间设有改变源辐射的能量含量的辐射过滤器，并且每个二极管层连接到用于产生与所述放射性参数相对应的信号的处理单元，以及包封在所述壳体中的电子部，所述电子部包括所述处理单元(3052)以及相对应的电子器件(3052)。