[发明专利]具有局部加热的测试系统及其制造方法有效
申请号: | 201480024082.1 | 申请日: | 2014-03-06 |
公开(公告)号: | CN105164544A | 公开(公告)日: | 2015-12-16 |
发明(设计)人: | D.L.迪安;R.W.埃利斯;S.哈罗 | 申请(专利权)人: | 智能存储系统股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;F25B21/02 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 王景刚;王增强 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种测试系统(100),及其制造方法,包括:包括散热器(206)的热管理头部(402);与散热器(206)直接接触的电子器件(210);以及用于在散热器(206)和电子器件(210)之间传递能量的电流。 | ||
搜索关键词: | 具有 局部 加热 测试 系统 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种测试系统的制造的方法,包括∶提供包括散热器的热管理头部;将所述散热器放置成与电子器件直接接触;以及通过改变电流在所述散热器和所述电子器件之间传递能量。
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