[发明专利]用于检测和补偿晶体管失配的电路和方法有效
| 申请号： | 201480012820.0 | 申请日： | 2014-03-05 |
| 公开（公告）号： | CN105191138B | 公开（公告）日： | 2017-12-08 |
| 发明（设计）人： | M·阿舒埃;T·格梅克 | 申请（专利权）人： | 非盈利IMEC荷兰 |
| 主分类号： | H03K19/003 | 分类号： | H03K19/003;G05F3/20;G11C5/14 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司31100 | 代理人： | 陈斌 |
| 地址： | 荷兰埃*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开涉及一种用于检测晶体管失配的电路(1)，包括用于生成基准信号(Vin)的信号发生器(4)，以及包括至少一对p沟道和n沟道晶体管的放大电路(5)，所述放大电路受到变化因素的影响，所述变化因素还影响位于同一集成电路(10)上的功能电路(3)，所述变化因素致使所述晶体管具有不同的驱动强度，所述放大电路(5)被配置用于接收所述基准信号(Vin)以及用于提供代表所述晶体管的驱动强度中的所述差异的放大信号(Vout)，以及其中，所述信号发生器(4)被设计成比所述放大电路(5)对所述变化因素更不敏感。它还涉及用于检测和补偿晶体管失配的集成电路(10)和方法。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 补偿 晶体管 失配 电路 方法 | ||
【主权项】：
一种用于检测晶体管失配的电路(1)，包括：‑用于生成基准信号(Vin)的信号发生器(4)，以及‑包括至少一对p沟道和n沟道晶体管的放大电路(5)，所述放大电路(5)受到变化因素的影响，所述变化因素还影响位于同一集成电路(10)上的功能电路(3)，所述变化因素致使所述晶体管在它们的驱动强度中具有差异，并且所述放大电路(5)被配置用于接收所述基准信号(Vin)以及用于提供代表所述晶体管的驱动强度中的所述差异的放大信号(Vout)，以及其中，所述信号发生器(4)被设计成比所述放大电路对所述变化因素更不敏感。
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