[实用新型]一种半导体晶体管的终端隔离结构有效

专利信息
申请号: 201420815449.9 申请日: 2014-12-19
公开(公告)号: CN204257659U 公开(公告)日: 2015-04-08
发明(设计)人: 马文力;杨勇;姚伟明 申请(专利权)人: 扬州国宇电子有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06
代理公司: 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 代理人: 刘宪池
地址: 225101 江苏省扬*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种半导体晶体管的终端隔离结构,包括重掺杂N型硅衬底,N型掺杂外延层,在N型掺杂外延层中间隔设有若干P型掺杂保护环,及重掺杂N型截止环,在P型掺杂保护环上依次设有P型重掺杂半导体区和氧化层薄膜,在相邻的氧化层薄膜之间的N型掺杂外延层上方设有场氧化层,在每个场氧化层与与其相邻的氧化层薄膜上面均设有场板,在场板、场氧化层及氧化层薄膜上设有钝化层;在N型掺杂外延层中间隔设置有从左至右宽度、深度逐渐减小的若干P型掺杂半导体沟槽,其上端深入其上方P型掺杂保护环中并与P型重掺杂半导体区接触;P型掺杂半导体沟槽填充有掺杂有P型杂质的多晶硅或单晶硅。该结构面积小,芯片利用面积高,同时提高了耐压性能。
搜索关键词: 一种 半导体 晶体管 终端 隔离 结构
【主权项】:
一种半导体晶体管的终端隔离结构,其包括重掺杂N型硅衬底,在N型硅衬底上设有的N型掺杂外延层,其特征在于在N型掺杂外延层中间隔设有从左至右间隙逐渐增大的若干P型掺杂保护环,在P型掺杂保护环的右侧的N型掺杂外延层中设有重掺杂N型截止环,在每个所述P型掺杂保护环中设有P型重掺杂半导体区,在每个所述P型重掺杂半导体区上方设有氧化层薄膜,在相邻的所述氧化层薄膜之间的N型掺杂外延层上方设有场氧化层,在每个所述场氧化层与与其相邻的所述氧化层薄膜上面均设有场板,在所述场板、所述场氧化层及所述氧化层薄膜上设有钝化层;在所述N型掺杂外延层中间隔设置有从左至右宽度、深度逐渐减小的若干P型掺杂半导体沟槽,每个所述P型掺杂半导体沟槽上端深入其上方的所述P型掺杂保护环中,并与所述P型重掺杂半导体区接触;所述P型掺杂半导体沟槽填充有掺杂有P型杂质的多晶硅或单晶硅。
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