[实用新型]适合光学测量设备的改进型基准尺有效
| 申请号： | 201420593891.1 | 申请日： | 2014-10-14 |
| 公开（公告）号： | CN204100949U | 公开（公告）日： | 2015-01-14 |
| 发明（设计）人： | 田凯 | 申请（专利权）人： | 北京长城华冠汽车科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B5/00 | 分类号： | G01B5/00 |
| 代理公司： | 北京市维诗律师事务所 11393 | 代理人： | 杨安进 |
| 地址： | 101300 北京市顺*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型是有关一种适合光学测量设备的改进型基准尺，其包括：基准尺本体，具有长轴方向延伸的工作平面；至少三个基准点，设置于该基准尺本体的该工作平面上；以及移动挡板滑块，以移动方式设置于基准尺本体上，该移动挡板滑块具有遮挡该基准点的遮挡面。本实用新型的改进型基准尺，包括至少三个基准点，能够调节标定尺寸，具有提高标定精度，实现“一尺多规格”的技术效果。 | ||
| 搜索关键词： | 适合 光学 测量 设备 改进型 基准 | ||
【主权项】：
一种适合光学测量设备的改进型基准尺，其特征在于其包括：基准尺本体，具有长轴方向延伸的工作平面；至少三个基准点，设置于该基准尺本体的该工作平面上；以及移动挡板滑块，以移动方式设置于基准尺本体上，该移动挡板滑块具有遮挡该基准点的遮挡面。
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