[实用新型]适合光学测量设备的改进型基准尺

说明书

技术领域

本申请涉及到一种基准尺，特别是涉及一种可适用于光学测量设备，用于标定和校准光学测量设备的改进型基准尺。

背景技术

请参阅图1所示，是现有光学测量设备自带的基准尺的立体示意图。基准尺的主要作用是标定和校准光学测量设备，以确保光学测量设备自身达到其标称精度。现有的基准尺，包括：基准尺本体30以及设置于基准尺本体30同一面两端的两个基准点32。现有的基准尺本体30宽度较窄，基准点32直径只有5mm、两基准点距离为950mm，因为只有一组基准点，测量大、中、小型零件，只能使用其单一规格，兼容和适应性稍差。

发明内容

有鉴于上述现有技术所存在的缺陷，本申请的目的在于，提供一种改进型的基准尺，能够使其在光学测量设备标定和校准过程中，提高标定成功率和精度，同时可以实现“一尺多规格”的效果。

为了实现上述目的，依据本实用新型提出的一种适合光学测量设备的改进型基准尺，其包括：基准尺本体，具有长轴方向延伸的工作平面；至少三个基准点，设置于该基准尺本体的该工作平面上；以及移动挡板滑块，以移动方式设置于基准尺本体上，该移动挡板滑块具有遮挡该基准点的遮挡面。

本实用新型还可采用以下技术措施进一步实现。

前述的改进型基准尺，其中所述的移动方式是滑槽与凸条的匹配、轴承与轴的匹配，或者是导向孔与导向轴的匹配。

前述的改进型基准尺，其中所述的移动挡板滑块与该基准尺本体之间设置有使该移动挡板滑块定位在该基准尺本体的预定位置的定位结构。

前述的改进型基准尺，其中所述的基准点为四个、五个、六个、七个或八个。

前述的改进型基准尺，其中所述的移动挡板滑块的个数比基准点的个数少两个。

前述的改进型基准尺，其中所述的基准尺本体呈槽钢形状，宽度为110mm；该基准点直径为15mm。

前述的改进型基准尺，其中所述的至少三个基准点的最外两端的基准点的距离为1200mm。

本实用新型与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。借由上述技术方案,本实用新型的适合光学测量设备的改进型基准尺，至少具有下列优点：

一、本实用新型的适合光学测量设备的改进型基准尺，包括至少三个基准点，能够调节标定尺寸，具有提高标定精度，实现“一尺多规格”的技术效果。

二、本实用新型的适合光学测量设备的改进型基准尺，增加了标定长度，在进行长尺寸物体测量时减少了因累积误差而造成的精度衰减。

三、本实用新型的适合光学测量设备的改进型基准尺，增大了基准店的直径，进而增加了光学测量设备在获取基准点圆心坐标时所需计算图片灰度阀值轮廓的周长，因此，提高了两个基准点之间的识别精度，从而改善整体测量精度。

附图说明

图1是现有光学测量设备自带的基准尺的立体示意图。

图2是本实用新型改进型基准尺的一实施例的立体示意图。

图3A是本实用新型改进型基准尺的一实施例的基准尺本体的立体示意图。

图3B是本实用新型改进型基准尺的一实施例的基准尺本体的截面示意图。

图4是本实用新型改进型基准尺的一实施例的移动挡板滑块的立体示意图。

图5是本实用新型改进型基准尺的第二种使用状态的立体示意图。

图6是本实用新型改进型基准尺的第三种使用状态的立体示意图。

具体实施方式

为更进一步阐述本实用新型为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效,以下结合附图及较佳实施例，对依据本实用新型提出的适合光学测量设备的改进型基准尺。其具体实施方式、步骤、结构、特征及其功效详细说明。

请参阅图2、图3A、图3B及图4所示，分别是本实用新型改进型基准尺的立体示意图、基准尺本体的立体示意图、基准尺本体的截面示意图及移动挡板滑块的立体示意图。

本实用新型较佳实施例的改进型基准尺，包括，基准尺本体1，分布在基准尺本体1同侧的四个基准点3，以及可在基准尺本体1做单自由度滑动的两个移动挡板滑块2。

上述的基准尺本体1具有长轴方向延伸工作平面13。本实施例中基准尺本体1呈槽钢形状，包括长轴方向延伸的工作平面13和由工作平面13向垂直于长轴方向延伸的两个侧面15，两个侧面15分别设置有滑槽11。该基准尺本体1宽度为110mm。