[发明专利]一种基于ATE的MCU/SOC芯片的测试方法有效
| 申请号： | 201410708882.7 | 申请日： | 2014-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN104572383A | 公开（公告）日： | 2015-04-29 |
| 发明（设计）人： | 宋恩琳 | 申请（专利权）人： | 深圳市芯海科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 深圳市凯达知识产权事务所 44256 | 代理人： | 刘大弯 |
| 地址： | 518067 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于ATE的MCU/SOC芯片的测试方法，该方法将ATE作为基础平台，通过自定的通信协议，实现ATE与其他器件的可靠通信。测试开始后，ATE通过协议发送指令1和激励1给待测器件，自动记录测试数据1，再发送指令2和激励2给待测器件，自动记录测试数据2…直到完成所有项目测试。该方法能够使ATE和MCU/SOC之间的保持自由通信，以准确可靠地连接外部设备，去除了所有人工操作，增大了测试数据量，同时极大减少了芯片测试时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 ate mcu soc 芯片 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种基于ATE MCU/SOC芯片的测试方法，其特征在于ATE对于每个MCU/SOC芯片采用4线通信，所述4线通信包括有CLK、Data、Cmd、Read)。CLK由ATE主控，Data由ATE和MCU/SOC同时控制，一方主控，一方释放；Cmd和Read分别为ATE和MCU/SOC的同步信号，当Cmd产生时钟下降沿表示ATE已完成所有操作，进行等待，当Read产生时钟上升沿表示MCU/SOC已完成所有操作，进行等待。
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