[发明专利]一种基于ATE的MCU/SOC芯片的测试方法

权利要求书

1.一种基于ATE MCU/SOC芯片的测试方法，其特征在于ATE对于每个MCU/SOC芯片采用4线通信，所述4线通信包括有CLK、Data、Cmd、Read)。CLK由ATE主控，Data由ATE和MCU/SOC同时控制，一方主控，一方释放；Cmd和Read分别为ATE和MCU/SOC的同步信号，当Cmd产生时钟下降沿表示ATE已完成所有操作，进行等待，当Read产生时钟上升沿表示MCU/SOC已完成所有操作，进行等待。

2.如权利要求1所述的基于ATE MCU/SOC芯片的测试方法，其特征在于所述的方法包括如下步骤：

101、ATE和MCU/SOC的芯片初始化；

102、Cmd端口拉低，Read端口同步；

103、ATE通过Data端口发送数据给MCU/SOC的芯片，

104、MCU/SOC的芯片根据ATE指令进行测试，并返回测试结果给ATE 。

3.如权利要求2所述的基于ATE MCU/SOC芯片的测试方法，其特征在于所述103、104步骤中，ATE通过协议发送指令1和激励1给待测器件，自动记录测试数据1，再发送指令2和激励2给待测器件，自动记录测试数据2，如此循环，直到完成所有项目测试。

4.如权利要求2所述的基于ATE MCU/SOC芯片的测试方法，其特征在于所述103步骤中，进一步包括有，1031、ATE接收到MCU/SOC的准备完成信号后，发送测试指令。

5.如权利要求2所述的基于ATE MCU/SOC芯片的测试方法，其特征在于所述104步骤中，进一步包括有，

1041、MCU接收ATE的测试指令后，进入该指令对应的测试模式，发送完成指令；

1042、ATE接收到MCU的完成指令后，配置自己的硬件资源或者是外接 的硬件资源。发送完成指令给MCU；

1043、MCU接收到ATE指令后，返回给ATE测试结果。

6.如权利要求2所述的基于ATE MCU/SOC芯片的测试方法，其特征在于所述基于ATE的MCU/SOC芯片测试方法，进一步包括有对大量测试数据的分析步骤：

105、大量测试数据的整理分析，并生成图像。

7.如权利要求5所述的基于ATE MCU/SOC芯片的测试方法，其特征在于所述105步骤如下：

1051、ATE将MCU/SOC芯片的测试结果上传给上位机或后台服务器；

1052、上位机或后台服务器生成理论数据链表与实际数据链表，理论数据链表就是MCU/SOC芯片理论数值所生成的链接表，实际数据链表则是实际测试结果所产生的链接表；

1053、上位机或后台服务器将理论数据链表与实际数据链表进行对比、解析；

1054、根据对比、解析结果，生成图像。