[发明专利]芯片测试方法及芯片测试机在审
| 申请号： | 201410660694.1 | 申请日： | 2014-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN105676105A | 公开（公告）日： | 2016-06-15 |
| 发明（设计）人： | 周博;郭平日;李奇峰;杨云 | 申请（专利权）人： | 比亚迪股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 张大威 |
| 地址： | 518118 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开的芯片测试方法包括步骤：S11：执行对芯片的测试项并得到测试结果，测试结果的结果标志位用于标识对应的测试项是否通过；S12：判断结果标志位是否全部标识为通过，若是进入步骤S13，若否进入步骤S14；S13：将芯片归为良类芯片；S14：将芯片归为复测类芯片；S15：重复S11至S14以完成所有待测芯片的测试；S16：分析复测类芯片的结果标志位并得到与标识为未通过对应的测试项；及S17：执行未通过的测试项并得到复测结果。该芯片测试方法，利用芯片本身的非易失性存储单元进行测试结果的保存，在复测芯片的过程中，执行对测试结果中未通过的测试项进行测试，无需重新将测试项全部进行复查测试，有效节省测试时间和成本。本发明还公开一种芯片测试机。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种芯片测试方法，其特征在于，包括步骤：S11：执行对待测芯片的多个测试项并得到测试结果，该测试结果被保存至该待测芯片的非易失性存储单元，该测试结果包括多个结果标志位，该结果标志位用于标识对应的测试项是否通过；S12：判断该多个结果标志位是否全部标识为通过，若是则进入步骤S13，若否则进入步骤S14；S13：将该待测芯片归为良类芯片；S14：将该待测芯片归为复测类芯片；S15：重复步骤S11至S14以完成所有待测芯片的测试；S16：分析每个复测类芯片的该多个结果标志位并得到与该结果标志位标识为未通过对应的测试项；及S17：执行对该复测类芯片的该对应的测试项并得到复测结果。
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