[发明专利]芯片测试方法及芯片测试机

权利要求书

1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括步骤：

S11：执行对待测芯片的多个测试项并得到测试结果，该测试结果被保存至该待测 芯片的非易失性存储单元，该测试结果包括多个结果标志位，该结果标志位用于标识对 应的测试项是否通过；

S12：判断该多个结果标志位是否全部标识为通过，若是则进入步骤S13，若否则 进入步骤S14；

S13：将该待测芯片归为良类芯片；

S14：将该待测芯片归为复测类芯片；

S15：重复步骤S11至S14以完成所有待测芯片的测试；

S16：分析每个复测类芯片的该多个结果标志位并得到与该结果标志位标识为未通 过对应的测试项；及

S17：执行对该复测类芯片的该对应的测试项并得到复测结果。

2.如权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，在步骤S17后，该方法还包 括步骤：

S18：判断该复测结果的结果标志位是否全部标识为通过，若是则进入步骤S19， 若否则进入步骤S20；

S19：将该复测类芯片归为良类芯片；

S20：将该复测类芯片归为技术分析类芯片；及

S21：重复步骤S16至S20以完成所有复测类芯片的测试。

3.如权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，该多个测试项包括测试电源 信号开短路、测试芯片漏电情况、测试闪存读写功能、测试闪存数据保持力、测试电压 和频率可调性、测试芯片上电时间、测试芯片中央处理器、测试信号驱动能力、测试芯 片主从通信、测试芯片低功耗模式、测试芯片计数器功能、测试芯片复位功能、测试芯 片上拉电阻功能、测试芯片模数转换功能及测试芯片掉电。

4.如权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，该结果标志位为1，标识对应 的测试项通过，该结果标志位为0，标识对应的测试项未通过。

5.一种芯片测试机，其特征在于，包括：

测试控制模块，其用于执行对待测芯片的多个测试项并得到测试结果，该测试结果 被保存至该待测芯片的非易失性存储单元，该测试结果包括多个结果标志位，该结果标 志位用于标识对应的测试项是否通过，该测试控制模块还用于判断该多个结果标志位是 否全部标识为通过；

分类模块，其用于，若该多个结果标志位全部标识为通过，将该待测芯片归为良类 芯片，及用于，若该多个结果标志位未全部标识为通过，将该待测芯片归为复测类芯片；

该测试控制模块还用于分析该复测类芯片的该多个结果标志位并得到与该结果标 志位标识为未通过对应的测试项；及用于执行对该复测类芯片的该对应的测试项并得到 复测结果。

6.如权利要求5所述的芯片测试机，其特征在于，该测试控制模块还用于判断该 复测结果的结果标志位是否全部标识为通过，该分类模块还用于，若该复测结果的结果 标志位全部标识为通过，将该复测类芯片归为良类芯片，及用于，若该复测结果的结果 标志位未全部标识为通过，将该复测类芯片归为技术分析类芯片。

7.如权利要求5所述的芯片测试机，其特征在于，该多个测试项包括测试电源信 号开短路、测试芯片漏电情况、测试闪存读写功能、测试闪存数据保持力、测试电压和 频率可调性、测试芯片上电时间、测试芯片中央处理器、测试信号驱动能力、测试芯片 主从通信、测试芯片低功耗模式、测试芯片计数器功能、测试芯片复位功能、测试芯片 上拉电阻功能、测试芯片模数转换功能及测试芯片掉电。

8.如权利要求5所述的芯片测试机，其特征在于，该结果标志位为1，标识对应的 测试项通过，该结果标志位为0，标识对应的测试项未通过。