[发明专利]晶体管测试电路以及测试方法有效
| 申请号： | 201410563203.1 | 申请日： | 2014-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN104267329A | 公开（公告）日： | 2015-01-07 |
| 发明（设计）人： | 商广良;林允植;韩承佑 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 吕晓章;叶齐峰 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 公开了一种晶体管测试电路以及相应的测试方法。该晶体管测试电路用于测试一组晶体管，其中该组晶体管包括至少两个晶体管，所述晶体管测试电路包括：第一电源电压端，连接到各个晶体管的第一极；第一控制信号端，连接到各个晶体管的控制极；以及一组测试端子，包括至少两个测试端子，其中，各个测试端子分别连接到各个晶体管的第二极。根据本发明公开的晶体管测试电路，可以同时测试多个晶体管的偏置电压特性。此外，还可以分别测试各个晶体管的电流特性，避免了对多个晶体管逐一测试偏置电压特性，从而减少了等待时间，提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 晶体管 测试 电路 以及 方法 | ||
【主权项】：
一种晶体管测试电路，用于测试一组晶体管，其中，该组晶体管包括至少两个晶体管，所述晶体管测试电路包括：第一电源电压端，连接到各个晶体管的第一极；第一控制信号端，连接到各个晶体管的控制极；以及一组测试端子，包括至少两个测试端子，其中，各个测试端子分别连接到各个晶体管的第二极。
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