[发明专利]晶体管测试电路以及测试方法

权利要求书

1.一种晶体管测试电路，用于测试一组晶体管，其中，该组晶体管包括至少两个晶体管，所述晶体管测试电路包括：

第一电源电压端，连接到各个晶体管的第一极；

第一控制信号端，连接到各个晶体管的控制极；以及

一组测试端子，包括至少两个测试端子，其中，各个测试端子分别连接到各个晶体管的第二极。

2.根据权利要求1所述的晶体管测试电路，还包括：

选择开关单元，所述选择开关单元包括至少两个选择开关；

第二电源电压端，连接到各个选择开关的第一端；

第二控制信号端，连接到各个选择开关的控制端；

其中，各个选择开关的第二端分别连接各个测试端子。

3.根据权利要求2所述晶体管测试电路，其中，所述各个选择开关为开关晶体管，各个选择开关的控制端为开关晶体管的栅极，其第一端为开关晶体管的源极或漏极中的一个，其第二端为开关晶体管的源极或漏极中的另一个。

4.根据权利要求1所述的晶体管测试电路，其中，在同时测试各个晶体管的偏置电压特性时，

第一电源电压端被配置为向各个晶体管的第一极提供第一电压；

第一控制信号端被配置为向各个晶体管的控制极提供第一控制信号；

各个测试端子被配置为浮空状态。

5.根据权利要求1所述的晶体管测试电路，其中，在分别测试各个晶体管的电流特性时，

第一电源电压端被配置为向各个晶体管的第一极提供第一电压；

第一控制信号端被配置为向各个晶体管的控制极提供第一控制信号；

被测试的晶体管对应连接的测试端子被配置为接入测试电压，其它测试端子被配置为浮空状态。

6.根据权利要求2所述的晶体管测试电路，其中，在同时测试各个晶体管的偏置电压特性时，

第一电源电压端被配置为向各个晶体管的第一极提供第一电压；

第二电源电压端被配置向各个选择开关的第一端提供第二电压或者不提供电压；

第一控制信号端被配置为向各个晶体管的控制极提供第一控制信号；

第二控制信号端被配置为向所连接的各个选择开关提供第二控制信号，开启各个选择开关，从而将各个晶体管的第二极连接到第二电源电压端；以及

各个测试端子被配置为浮空状态。

7.根据权利要求6所述的晶体管测试电路，其中，对各个晶体管进行正向偏置测试时所施加的第一控制信号与对各个晶体管进行反向偏置测试时所施加的第一控制信号的电平相反。

8.根据权利要求2所述的晶体管测试电路，其中，在分别测试晶体管的电流特性时，

第一电源电压端被配置为向各个晶体管的第一极提供第一电压；

第二电源电压端被配置为向各个选择开关的第一端提供第二电压或者不提供电压；

第一控制信号端被配置为向各个晶体管的控制极提供第一控制信号；

第二控制信号端被配置为向所连接的各个选择开关提供第二控制信号，关断所连接的各个选择开关，从而断开各个晶体管的第二极与第二电源电压端的连接；以及

与被测试晶体管连接的测试端子被配置为提供测试电压，其它测试端子被配置为浮空。

9.根据权利要求8所述的晶体管测试电路，其中，第一电压的电平和第二电压的电平是不同的，并且第一电压、测试电压和/或第一控制信号被配置为根据测试需要随时间改变其电平大小。

10.根据权利要求8所述的晶体管测试电路，其中，第二电压的电平和测试电压的电平被配置为相同。

11.一种晶体管测试方法，用于测试一组晶体管，其中，该组晶体管包括至少两个晶体管，所述晶体管测试方法包括：

将各个晶体管的第一极连接到第一电源电压端；

将各个晶体管的控制极连接到第一控制信号端；以及

将各个晶体管的第二极分别连接到各个测试端子；其中

通过第一电源电压端向各个晶体管的第一极提供第一电压；

通过第一控制信号端向各个晶体管的控制极提供第一控制信号。