[发明专利]用于存储器件的结构、器件和方法有效

专利信息
申请号: 201410509519.2 申请日: 2014-09-28
公开(公告)号: CN105097810B 公开(公告)日: 2018-02-27
发明(设计)人: 张峰铭;洪连嵘;黄怀莹;王屏薇 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/11 分类号: H01L27/11;H01L21/8244;H01L21/768
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司11409 代理人: 章社杲,李伟
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明提供了用于制造存储器件的各种结构、各个器件和各种方法。一种结构包括设置在第一导电层中的第一导线;设置在第一导电层中并且与设置在第二导电层中的第二导线相关的第一着陆台;以及设置在第一导电层中并且与设置在第三导电层中的第三导线相关的第二着陆台。第二导电层和第三导电层与第一导电层不同。
搜索关键词: 用于 存储 器件 结构 方法
【主权项】:
一种用于制造存储器件的结构,所述结构包括:第一导线,设置在第一导电层中;第一着陆台,设置在所述第一导电层中并且与设置在第二导电层中的第二导线相关;以及第二着陆台,设置在所述第一导电层中并且与设置在第三导电层中的第三导线相关,其中,所述第二着陆台通过第一层间连接结构连接至所述第二导电层中的第三着陆台,以及所述第三着陆台通过第二层间连接结构连接至设置在所述第三导电层中的所述第三导线;其中,所述第二导电层和所述第三导电层与所述第一导电层不同。
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