[发明专利]一种Ni‑P基板的封装方法有效
申请号: | 201410474489.6 | 申请日: | 2014-09-17 |
公开(公告)号: | CN104282582B | 公开(公告)日: | 2017-02-01 |
发明(设计)人: | 马运柱;刘文胜;王依锴;黄宇峰 | 申请(专利权)人: | 中南大学 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;H01L21/56 |
代理公司: | 长沙市融智专利事务所43114 | 代理人: | 颜勇 |
地址: | 410083 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明涉及一种Ni‑P基板的封装方法;属于电子封装技术领域。本发明将5‑20wt%的纳米镍粉与80‑95wt%的助焊剂混合均匀后,涂覆或印刷于Ni‑P基板上,然后再涂覆或印刷锡基焊料,得到待焊基板,然后将待焊基板置于磁场强度梯度为3‑5×104G/m,且基板处磁感应强度为1000‑2000G范围的静磁场中(磁场源在Ni‑P板内侧),进行回流焊接。本发明大大降低了焊点在服役过程中Ni‑P的消耗速率,同时抑制了金属间化合物的长大,同时还避免了界面金属间化合物的分层或者剥离情况的出现。本发明焊点可靠性更好,且成本低,生产效率高,技术稳定性优良,适用于大规模工业应用。 | ||
搜索关键词: | 一种 ni 封装 方法 | ||
【主权项】:
一种Ni‑P基板的封装方法,其特征在于,包括下述步骤:步骤一将纳米镍粉和助焊剂混合均匀,得到混合助焊剂,所述混合助焊剂以质量百分比包括:纳米镍粉 5‑20%;助焊剂 80‑95%;步骤二在Ni‑P基板上所设定的封装焊点位置涂覆步骤一所得混合助焊剂;步骤三在步骤二涂覆的混合助焊剂上涂覆锡基焊料,得到待焊基板;步骤四在保护气氛下,将步骤三所得待焊基板置于磁场中进行回流焊接,所述磁场的感应强度梯度为3‑5×104G/m,所述待焊基板处的磁感应强度为1000‑2000G。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造