[发明专利]用于静电防护的半导体结构在审

专利信息
申请号: 201410469877.5 申请日: 2014-09-15
公开(公告)号: CN105489641A 公开(公告)日: 2016-04-13
发明(设计)人: 柯钧钟;吴志伦;林硕彦 申请(专利权)人: 台湾类比科技股份有限公司
主分类号: H01L29/41 分类号: H01L29/41;H01L29/06;H01L23/60
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 何青瓦
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开了一种用于静电防护的半导体结构,其中,半导体结构设置于集成电路上,该集成电路包含设置于该集成电路的外围的封环,金属环设置于该封环的内侧,以及电源汇流排设置于该金属环的一侧,该半导体结构包含第一N型电极区,第二N型电极区,以及第一P型电极区。该第一N型电极区形成于P型井上相对应于该封环的位置,且耦接至该封环。该第二N型电极区形成于该P型井上相对应于该电源汇流排的位置,且耦接至该电源汇流排。该第一P型电极区形成于该P型井上相对应于该金属环的位置,且耦接至该金属环;通过上述方式,本发明的半导体结构节省集成电路的空间及改善集成电路的静电防护能力。
搜索关键词: 用于 静电 防护 半导体 结构
【主权项】:
一种用于静电防护的半导体结构,其特征在于,该半导体结构设置于集成电路上,该集成电路包含设置于该集成电路的外围的封环(seal ring),金属环设置于该封环的内侧,以及电源汇流排设置于该金属环的一侧,该半导体结构包含:第一N型电极区,形成于P型井上相对应于该封环的位置,且耦接至该封环;第二N型电极区,形成于该P型井上相对应于该电源汇流排的位置,且耦接至该电源汇流排;第一P型电极区,形成于该P型井上相对应于该金属环的位置,且耦接至该金属环;其中该封环及该电源汇流排耦接至电压源,该金属环耦接至接地端。
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