[发明专利]半导体集成电路设备无效

专利信息
申请号: 201410389936.8 申请日: 2014-08-08
公开(公告)号: CN104346251A 公开(公告)日: 2015-02-11
发明(设计)人: 山田弘道;金川信康;山田勉;萩原今朝巳;石黑雄一;安增贵志;福田和良;中田善之 申请(专利权)人: 瑞萨电子株式会社
主分类号: G06F11/26 分类号: G06F11/26
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 王茂华
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 提供了一种具有故障检测功能的微控制器,其中在没有使程序复杂化的情况下实现了通过程序的双工处理。外围电路设置有寄存器并且基于命令执行处理。通过访问寄存器的同一程序,中央处理单元两次执行处理。双工访问控制电路被配置有外围总线访问单元、缓冲器和比较器单元。在第一程序执行中,外围总线访问单元控制由中央处理单元对寄存器的访问。在第一程序执行中,缓冲器将访问信息存储到寄存器。比较器单元将第二程序执行中的访问信息与存储在访问信息存储单元中的访问信息进行比较。在不一致的情况下,错误信号被输出到中央处理单元。
搜索关键词: 半导体 集成电路 设备
【主权项】:
一种半导体集成电路设备,包括:外围电路,设置有寄存器并且可操作用于基于输入的命令执行处理;中央处理单元,可操作用于执行双工处理,其中通过访问所述寄存器的同一程序的处理被执行两次;以及访问控制电路,可操作用于在所述中央处理单元访问所述外围电路时执行访问控制,其中所述访问控制电路包括:总线访问单元,可操作用于在由所述中央处理单元对所述程序的第一执行中控制由所述中央处理单元对所述寄存器的访问;访问信息存储单元,可操作用于存储第一访问信息,所述第一访问信息是在由所述中央处理单元对所述程序的所述第一执行中在所述中央处理单元访问所述寄存器之时的信息;以及比较器单元,可操作用于将存储在所述访问信息存储单元中的所述第一访问信息与第二访问信息比较,并且可操作用于在所述第一访问信息与所述第二访问信息不一致时输出错误信号到所述中央处理单元,所述第二访问信息是在由所述中央处理单元对所述程序的第二执行中在所述中央处理单元访问所述寄存器之时的信息。
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