[发明专利]一种去边宽度的监测晶圆及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201410387724.6 申请日: 2014-08-07
公开(公告)号: CN105448891A 公开(公告)日: 2016-03-30
发明(设计)人: 栾会倩 申请(专利权)人: 无锡华润上华科技有限公司
主分类号: H01L23/544 分类号: H01L23/544;H01L21/02
代理公司: 北京市磐华律师事务所 11336 代理人: 汪洋;高伟
地址: 214028 江苏省无*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供一种去边宽度的监测晶圆以及制作方法,其中所述监测晶圆的边缘具有若干第一刻度尺图形,所述第一刻度尺图形带有刻度的边与所述监测晶圆的半径对齐,所述第一刻度尺图形的最小刻度至少为0.1mm。利用本发明的具有刻度尺图形的监测晶圆对去边宽度做监控,可直接在监测晶圆上读出去边宽度,并且通过四个刻度尺图形上读出的四个读数,可精确的判断出去边宽度大小,以及是否相对晶圆中心有平移(即通常所说的大小边的问题)。采用本发明的监测晶圆对去边宽度进行监控,可以快速的读出去边监测数据,无需机台测量,省时省力。
搜索关键词: 一种 宽度 监测 及其 制作方法
【主权项】:
一种去边宽度的监测晶圆,其中所述监测晶圆的边缘具有若干第一刻度尺图形,所述第一刻度尺图形带有刻度的边与所述监测晶圆的半径对齐,所述第一刻度尺图形的最小刻度至少为0.1mm。
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