[发明专利]用于测定电子装置的环境温度的方法和系统有效
| 申请号： | 201410286317.6 | 申请日： | 2014-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN104236736B | 公开（公告）日： | 2017-08-25 |
| 发明（设计）人： | 沃达尔奇克·米罗斯瓦夫;派斯克德奇·彼得 | 申请（专利权）人： | 远升科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01K7/00 | 分类号： | G01K7/00 |
| 代理公司： | 北京律和信知识产权代理事务所(普通合伙)11446 | 代理人： | 王美石,刘国伟 |
| 地址： | 瑞士*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于测定电子装置的环境温度的方法，所述装置包括定位于共用壳体(101)内的发热部件(102)和温度传感器(105)，所述方法包括以下步骤在具有受控环境温度的环境中测定(307)第一功率模式(Emin)与第二功率模式(Emax)之间的功率耗散变化的装置特定系数(a)，其中在所述第二功率模式(Emax)中，所述装置比在所述第一功率模式(Emin)中耗散更多功率；以及在将要测定所述环境温度的环境中通过用于所述第一功率模式(Emin)和所述第二功率模式(Emax)的温度传感器(105)测量(203‑205)温度(Tmin,Tmax)，根据所测量的温度(Tmin,Tmax)和功率耗散变化的所述装置特定系数(a)计算(206)环境温度(Tamb)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测定 电子 装置 环境温度 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种用于测定电子装置的环境温度的方法，所述电子装置包括：定位于共用壳体(101)内的发热部件(102)和温度传感器(105)，其特征在于，所述方法包括以下步骤：‑在具有受控恒定环境温度Tambl的环境中：‑测定第一功率模式Emin与第二功率模式Emax之间的功率耗散变化的装置特定系数a，其中在所述第二功率模式Emax中，所述电子装置比在所述第一功率模式Emin中耗散更多功率，采用如下方程计算装置特定系数a：其中Tminl是在环境中的所述第一功率模式Emin中被所述温度传感器(105)所指示的温度以及Tmaxl是在环境中的所述第二功率模式Emax中被所述温度传感器(105)所指示的温度；‑在所述电子装置的非易失性存储器(111)中存储所述功率耗散变化的装置特定系数a；‑在将要测定环境温度的环境中：‑通过用于所述第一功率模式Emin和所述第二功率模式Emax的温度传感器(105)测量温度Tmin,Tmax，‑根据所测量的温度Tmin,Tmax和功率耗散变化的所述电子装置特定系数a计算所述环境温度Tamb，方程如下：
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