[发明专利]用于测定电子装置的环境温度的方法和系统

说明书

技术领域

本发明涉及测定电子装置的环境温度。

背景技术

电子装置通常被设计成在通过可容许湿度和温度范围所界定的特定环境条件下操作，所述范围对于期望操作所述装置的给定地理区域来说通常是正常的。例如，可能期望在+5至+35摄氏度的温度范围内操作装置。这个范围对于家庭内部来说通常为正常的。

然而，在终端用户住宅房屋处，装置可能常常被无意地放置在条件超过容许温度范围的环境中。例如，DVD播放器或机顶盒可能放置在遭受日照的密闭橱柜中。在那些条件下，考虑到由装置本身产生的热量和日照热量，所述装置的环境大气将可能超过容许温度。这可能导致由过热引起的装置故障。此外，即使环境温度在容许限度内，但装置安装不当时，所述装置仍可能过热，例如，由于在装置顶部上铺放报纸而遮盖装置壳体处的通气口从而引起装置的热阻增加的情况。

因此希望监控电子装置的环境温度，以便例如当温度超过容许范围时，引起装置自动断电或存储数据以达维修目的。希望进一步监控电子装置的热阻变化。

环境温度可通过定位在装置外部壳体处的专用温度传感器来监控。

例如，US8374730提出用于动态地预算功率使用来控制数据处理系统中的温度的方法和设备。所述系统包括：第一传感器，其测定数据处理系统所处环境的环境温度；连接到所述传感器的控制器，其根据环境温度控制数据处理系统的操作；以及第二传感器，其测定数据处理系统的部件的实际温度。

同样，US6754607提出用于控制设备的故障诊断方法，所述设备包括：第一传感器，其用于检测控制设备的内部温度；第二传感器，其用于检测控制设备的外部温度；以及内部存储介质，其用于存储在控制设备内部已创建的信息。

这种专用环境温度传感器增加了装置的成本和复杂性。

发明内容

本发明的目的是一种用于测定电子装置的环境温度的方法，所述装置包括：定位于共用壳体内的发热部件和温度传感器，所述方法包括以下步骤：在具有受控环境温度的环境中：测定第一功率模式(E_min)与第二功率模式(E_max)之间的功率耗散变化的装置特定系数(a)，其中在所述第二功率模式(E_max)中，所述装置比在所述第一功率模式(E_min)中耗散更多功率；以及在将要测定环境温度的环境中：通过用于所述第一功率模式(E_min)和所述第二功率模式(E_max)的温度传感器测量温度(T_min,T_max)，根据所测量的温度(T_min,T_max)和功率耗散变化的所述装置特定系数(a)来计算环境温度(T_amb)。

优选地，所述方法进一步包括以下步骤：将所测定的环境温度(T_amb)与最大容许环境温度(T_ambmax)相比较，并且在所测定的环境温度(T_amb)高于所述最大容许环境温度(T_ambmax)的情况下发出报警。

优选地，所述方法进一步包括以下步骤：在具有所述受控环境温度的所述环境中：测定所述装置与装置环境之间的热阻(R)和所述第一功率模式(E_min)中的功率耗散(P_min)的装置特定乘积(R*P_min)，以及在将要测定所述环境温度的所述环境中：根据所测量的温度(T_min,T_max)和装置特定乘积(R*P_min)来测定装置-装置环境热阻变化的系数(b)。

优选地，所述方法进一步包括以下步骤：在所计算的热阻系数(b)超过值1的情况下，发出报警。

本发明的另一目的是一种计算机程序以及一种计算机可读介质，所述计算机程序包括当所述程序在计算机上运行时用于执行根据本发明的所述方法的所有步骤的程序代码装置，所述计算机可读介质存储计算机可执行指令，所述计算机可执行指令在计算机上执行时执行根据本发明的所述方法的所有步骤。