[发明专利]用于测定电子装置的环境温度的方法和系统有效
申请号: | 201410286317.6 | 申请日: | 2014-06-24 |
公开(公告)号: | CN104236736B | 公开(公告)日: | 2017-08-25 |
发明(设计)人: | 沃达尔奇克·米罗斯瓦夫;派斯克德奇·彼得 | 申请(专利权)人: | 远升科技股份有限公司 |
主分类号: | G01K7/00 | 分类号: | G01K7/00 |
代理公司: | 北京律和信知识产权代理事务所(普通合伙)11446 | 代理人: | 王美石,刘国伟 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 测定 电子 装置 环境温度 方法 系统 | ||
1.一种用于测定电子装置的环境温度的方法,所述电子装置包括:定位于共用壳体(101)内的发热部件(102)和温度传感器(105),其特征在于,所述方法包括以下步骤:
-在具有受控恒定环境温度Tambl的环境中:
-测定第一功率模式Emin与第二功率模式Emax之间的功率耗散变化的装置特定系数a,其中在所述第二功率模式Emax中,所述电子装置比在所述第一功率模式Emin中耗散更多功率,采用如下方程计算装置特定系数a:
其中Tminl是在环境中的所述第一功率模式Emin中被所述温度传感器(105)所指示的温度以及Tmaxl是在环境中的所述第二功率模式Emax中被所述温度传感器(105)所指示的温度;
-在所述电子装置的非易失性存储器(111)中存储所述功率耗散变化的装置特定系数a;
-在将要测定环境温度的环境中:
-通过用于所述第一功率模式Emin和所述第二功率模式Emax的温度传感器(105)测量温度Tmin,Tmax,
-根据所测量的温度Tmin,Tmax和功率耗散变化的所述电子装置特定系数a计算所述环境温度Tamb,方程如下:
2.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括以下步骤:将所测定的环境温度Tamb与最大容许环境温度Tambmax相比较,并且在所测定的环境温度Tamb高于所述最大容许环境温度Tambmax的情况下发出报警。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其进一步包括以下步骤:
-在具有所述受控恒定环境温度的所述环境中:
-测定所述电子装置与装置环境之间的热阻R和所述第一功率模式Emin中的功率耗散Pmin的装置特定乘积R*Pmin,
-在将要测定所述环境温度的所述环境中:
-根据所测量的温度Tmin,Tmax和装置特定乘积R*Pmin测定装置-装置环境热阻变化的系数b,方程如下:
。
4.根据权利要求3所述的方法,其进一步包括步骤:在所计算的热阻系数b超过值1的情况下,发出报警。
5.一种电子装置,其包括定位于共用壳体(101)内的发热部件(102)和温度传感器(105),其特征在于,所述电子装置进一步包括:
-非易失性存储器(111),其被配置来存储第一功率模式Emin与第二功率模式Emax之间的功率耗散变化的装置特定系数a,其中在所述第二功率模式Emax中,所述电子装置比在所述第一功率模式Emin中耗散更多功率,其中具有受控恒定环境温度Tambl的环境中所述功率耗散变化的装置特定系数a采用如下方程计算:
其中Tminl是在环境中的所述第一功率模式Emin中被所述温度传感器(105)所指示的温度以及Tmaxl是在环境中的所述第二功率模式Emax 中被所述温度传感器(105)所指示的温度;
-控制器(104),其被配置来通过以下方法测定环境温度:
-通过用于所述第一功率模式Emin和所述第二功率模式Emax的温度传感器(105)测量温度Tmin,Tmax,
-根据所测量的温度Tmin,Tmax和从所述非易失性存储器(111)读取的功率耗散变化的所述电子装置特定系数a来计算所述环境温度Tamb,方程如下:
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