[发明专利]用于测定电子装置的环境温度的方法和系统有效

专利信息
申请号: 201410286317.6 申请日: 2014-06-24
公开(公告)号: CN104236736B 公开(公告)日: 2017-08-25
发明(设计)人: 沃达尔奇克·米罗斯瓦夫;派斯克德奇·彼得 申请(专利权)人: 远升科技股份有限公司
主分类号: G01K7/00 分类号: G01K7/00
代理公司: 北京律和信知识产权代理事务所(普通合伙)11446 代理人: 王美石,刘国伟
地址: 瑞士*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 测定 电子 装置 环境温度 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种用于测定电子装置的环境温度的方法,所述电子装置包括:定位于共用壳体(101)内的发热部件(102)和温度传感器(105),其特征在于,所述方法包括以下步骤:

-在具有受控恒定环境温度Tambl的环境中:

-测定第一功率模式Emin与第二功率模式Emax之间的功率耗散变化的装置特定系数a,其中在所述第二功率模式Emax中,所述电子装置比在所述第一功率模式Emin中耗散更多功率,采用如下方程计算装置特定系数a:

其中Tminl是在环境中的所述第一功率模式Emin中被所述温度传感器(105)所指示的温度以及Tmaxl是在环境中的所述第二功率模式Emax中被所述温度传感器(105)所指示的温度;

-在所述电子装置的非易失性存储器(111)中存储所述功率耗散变化的装置特定系数a;

-在将要测定环境温度的环境中:

-通过用于所述第一功率模式Emin和所述第二功率模式Emax的温度传感器(105)测量温度Tmin,Tmax

-根据所测量的温度Tmin,Tmax和功率耗散变化的所述电子装置特定系数a计算所述环境温度Tamb,方程如下:

2.根据权利要求1所述的方法,其进一步包括以下步骤:将所测定的环境温度Tamb与最大容许环境温度Tambmax相比较,并且在所测定的环境温度Tamb高于所述最大容许环境温度Tambmax的情况下发出报警。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其进一步包括以下步骤:

-在具有所述受控恒定环境温度的所述环境中:

-测定所述电子装置与装置环境之间的热阻R和所述第一功率模式Emin中的功率耗散Pmin的装置特定乘积R*Pmin

-在将要测定所述环境温度的所述环境中:

-根据所测量的温度Tmin,Tmax和装置特定乘积R*Pmin测定装置-装置环境热阻变化的系数b,方程如下:

4.根据权利要求3所述的方法,其进一步包括步骤:在所计算的热阻系数b超过值1的情况下,发出报警。

5.一种电子装置,其包括定位于共用壳体(101)内的发热部件(102)和温度传感器(105),其特征在于,所述电子装置进一步包括:

-非易失性存储器(111),其被配置来存储第一功率模式Emin与第二功率模式Emax之间的功率耗散变化的装置特定系数a,其中在所述第二功率模式Emax中,所述电子装置比在所述第一功率模式Emin中耗散更多功率,其中具有受控恒定环境温度Tambl的环境中所述功率耗散变化的装置特定系数a采用如下方程计算:

其中Tminl是在环境中的所述第一功率模式Emin中被所述温度传感器(105)所指示的温度以及Tmaxl是在环境中的所述第二功率模式Emax 中被所述温度传感器(105)所指示的温度;

-控制器(104),其被配置来通过以下方法测定环境温度:

-通过用于所述第一功率模式Emin和所述第二功率模式Emax的温度传感器(105)测量温度Tmin,Tmax

-根据所测量的温度Tmin,Tmax和从所述非易失性存储器(111)读取的功率耗散变化的所述电子装置特定系数a来计算所述环境温度Tamb,方程如下:

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