[发明专利]基板检测用定位图形及其制造方法在审
| 申请号： | 201410274153.5 | 申请日： | 2014-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN104062783A | 公开（公告）日： | 2014-09-24 |
| 发明（设计）人： | 高冬子;柴立 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 | 代理人： | 吴大建;刘华联 |
| 地址： | 518132 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基板检测用的定位图形及其制造方法，其中基板检测用定位图形包括至少两层金属层图案以及位于任意两层金属层图案之间的绝缘层。本发明解决了TFT LCD基板加工过程中由于绝缘层覆盖不完全时导致的定位图形缺失的问题，使成品率得到提高。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 定位 图形 及其 制造 方法 | ||
【主权项】：
一种基板检测用定位图形，其特征在于，包括：至少两层金属层图案；位于任意两层金属层图案之间的绝缘层。
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