[发明专利]一种LTPS工艺有效
申请号: | 201410198188.5 | 申请日: | 2014-05-12 |
公开(公告)号: | CN103972169A | 公开(公告)日: | 2014-08-06 |
发明(设计)人: | 郎丰伟;文东星 | 申请(专利权)人: | 四川虹视显示技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77 |
代理公司: | 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 | 代理人: | 周永宏 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: |
本发明的一种LTPS工艺,相对于传统工艺,包含以下步骤:根据晶体管类型在其源极或漏极掺杂P-或B+;S7、熔炉热处理以激活掺杂的杂质;S8、使用电子束蒸发器和掩模板蒸镀 |
||
搜索关键词: | 一种 ltps 工艺 | ||
【主权项】:
一种LTPS工艺,包括步骤:S1、在玻璃基板上以PECVD方式蒸镀阻止杂质渗透的厚为
的缓冲氧化层;S2、利用PECVD或LPCVD,蒸镀厚度为
的单晶硅来作为晶体管的源极和漏极;S3、采用ALD设备以原子单位蒸镀Ni或溅射数十
的Ni用以完成硅结晶化;S4、采用熔炉在约600℃的条件下经过一小时硅结晶化形成多晶硅;S5、利用光刻蚀刻工序形成TFT的源极和漏极图案;其特征在于,还包括步骤:S6、根据晶体管类型在其源极或漏极掺杂P‑或B+;S7、熔炉热处理以激活掺杂的杂质;S8、使用电子束蒸发器和掩模板蒸镀
厚的氧化物的图案,用以形成栅极金属层;S9、使用电子束蒸发器和掩模板蒸镀厚度为
的金属图案,用以形成栅极金属层、扫描线和电容;S10、使用电子束蒸发器和掩模板蒸镀厚度为
氧化物图案,用以形成电容的电介质,并防止栅极金属层的短路;S11、选择能与硅粘接的金属,利用掩模板蒸镀形成电源线源极、漏极金属层和电容图案,蒸镀厚度为
S12、利用掩模板蒸镀厚为
的阳极电极;S13、通过光刻蚀刻利用丙烯酸的PR做为保护除发光区域以外的区域的保护层图案。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于四川虹视显示技术有限公司,未经四川虹视显示技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410198188.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:克拉克瓷的制备方法
- 下一篇:软土地基防治基础脱空的桩基
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造