[发明专利]一种LTPS工艺有效
申请号: | 201410198188.5 | 申请日: | 2014-05-12 |
公开(公告)号: | CN103972169A | 公开(公告)日: | 2014-08-06 |
发明(设计)人: | 郎丰伟;文东星 | 申请(专利权)人: | 四川虹视显示技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77 |
代理公司: | 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 | 代理人: | 周永宏 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 ltps 工艺 | ||
技术领域
本发明属于OLED平面显示面板工艺技术领域,具体涉及一种LTPS工艺。
背景技术
在平板显示技术中,有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode,OLED)显示器以其轻薄、主动发光、快响应速度、广视角、色彩丰富及高亮度、低功耗和耐高低温等众多优点而被业界公认为是继液晶显示器(LCD)之后的第三代显示技术。主动式OLED(Active Matrix OLED,AMOLED)也称为有源矩阵OLED,AMOLED因通过在每个像素中集成薄膜晶体管(TFT)和电容器并由电容器维持电压的方法进行驱动,因而可以实现大尺寸、高分辨率面板,是当前研究的重点及未来显示技术的发展方向。
在现有的低温多晶硅(LTPS,Low Temperature Poly-silicon)制作工艺中,薄膜场效应晶体管(TFT,Thin Film Transistor)制作的主要步骤是在蒸镀材料之后,通过循环光刻蚀刻形成图案,最后PR脱膜。主要步骤包括:1、在玻璃基板(经600℃热处理)上以PECVD方式蒸镀阻止杂质渗透的厚为的缓冲氧化层;2、利用PECVD或LPCVD,蒸镀厚度为的单晶硅(a-Si)来作为晶体管(Transistor)的源极和漏极;3、为了完成LTPS非激光(Non laser)方式的硅结晶化,采用ALD设备以原子单位蒸镀Ni或溅射数十的Ni;4、采用熔炉(Furnace)在约600℃的条件下经过一小时硅结晶化形成多晶硅;5、利用光刻蚀刻工序形成TFT的源极和漏极图案(source/Drain patterning);6、用PECVD制作晶体管(Transistor)的栅极绝缘层(Gate insulator),厚度范围为7、通过溅射蒸镀厚度为的栅极金属层(Gate Metal),可以通过筛选实验选择特性好、便宜的Gate Metal的金属材料,然后利用光刻蚀刻形成栅极金属层(Gate Metal)图形;8、根据晶体管的类型,用离子注入机(Ion implanter)进行数秒到数分钟的B+或P-离子注入;9、为激活经过掺杂的杂质,在450℃的熔炉里进行30分钟的活化作用;10、为保护晶体管和防止金属布线的短路,在PECVD设备里蒸镀的ILD(Inter Layer Dielectrics),然后再经过光刻蚀刻工序制作布线接触用的接触孔(hole)图案;11、利用溅射蒸镀厚度为1500~2000的金属(通过实验选择特性好的金属材料),通过光刻蚀刻工序形成源极和漏极金属图案以及金属布线图形;12、利用PECVD蒸镀厚度为的防止阳极和金属布线短路的钝化绝缘膜,通过光刻蚀刻形成阳极接触的接触孔图案;13、用溅射蒸镀厚为的透明金属ITO(功函数约4.8),通过光刻蚀刻形成阳极图案;14、光刻蚀刻利用丙烯酸系列(acrylic affiliation)的PR做为保护发光领域以外的部分的图形。
此种工艺的缺陷是工序复杂和制作时间较长,并且可能成为不良率增加的原因,使良率下降。
发明内容
本发明的目的是为了解决现有的LTPS工艺工序复杂、制作时间长以及工艺会影响产品制作良率的不足,通过掩模板使循环反复的TFT制程的制作方法简单化,提出了一种LTPS工艺。
本发明的技术方案为:一种LTPS工艺,包括步骤:
S1、在玻璃基板上以PECVD方式蒸镀阻止杂质渗透的厚为的缓冲氧化层;
S2、利用PECVD或LPCVD,蒸镀厚度为的单晶硅来作为晶体管的源极和漏极;
S3、采用ALD设备以原子单位蒸镀Ni或溅射数十的Ni用以完成硅结晶化;
S4、采用熔炉在约600℃的条件下经过一小时硅结晶化形成多晶硅;
S5、利用光刻蚀刻工序形成TFT的源极和漏极图案;
其特征在于,还包括步骤:
S6、根据晶体管类型在其源极或漏极掺杂P-或B+;
S7、熔炉热处理以激活掺杂的杂质;
S8、使用电子束蒸发器和掩模板蒸镀厚的氧化物的图案,用以形成栅极金属层;
S9、使用电子束蒸发器和掩模板蒸镀厚度为的金属图案,用以形成栅极金属层、扫描线和电容;
S10、使用电子束蒸发器和掩模板蒸镀厚度为氧化物图案,用以形成电容的电介质,并防止栅极金属层的短路;
S11、选择能与硅粘接的金属,利用掩模板蒸镀形成电源线源极、漏极金属层和电容图案,蒸镀厚度为
S12、利用掩模板蒸镀厚为的阳极电极;
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造