[发明专利]测试过程中的芯片检测方法及系统在审
| 申请号： | 201410193767.0 | 申请日： | 2014-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN104007313A | 公开（公告）日： | 2014-08-27 |
| 发明（设计）人： | 李国强;吴大畏;陈寄福 | 申请（专利权）人： | 深圳市硅格半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R23/10 | 分类号： | G01R23/10;G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 胡海国;高丽晶 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山区科技*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试过程中的芯片检测方法及系统。本发明实施例检测装置建立与芯片之间的连接；检测装置在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率；检测装置判断所述振荡器的时钟频率是否在预设频率范围内，若否，则调整所述时钟频率的频率参数并将调整后的所述频率参数存储在芯片内。本发明实施例可防止因不同批次的芯片的性能差异而造成使用该芯片的成品的性能差异。另外，本发明实施例不需使用高精度的内部振荡器也不需要改变内部振荡器的电路结构，有利于降低成本。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 过程 中的 芯片 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种测试过程中的芯片检测方法，其特征在于，包括以下步骤：检测装置建立与芯片之间的连接；检测装置在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率；检测装置判断所述振荡器的时钟频率是否在预设频率范围内，若否，则调整所述时钟频率的频率参数并将调整后的所述频率参数存储在芯片内。
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