[发明专利]测试过程中的芯片检测方法及系统

权利要求书

1.一种测试过程中的芯片检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

检测装置建立与芯片之间的连接；

检测装置在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率；

检测装置判断所述振荡器的时钟频率是否在预设频率范围内，若否，则调整所述时钟频率的频率参数并将调整后的所述频率参数存储在芯片内。

2.如权利要求1所述的测试过程中的芯片检测方法，其特征在于，所述检测装置在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率的步骤包括：

检测装置利用所述外部基准时间信号进行计时得到时间值；

检测装置接收芯片根据所述外部基准时间信号对振荡器输出的时钟信号进行计数得到计数值；

检测装置根据所述时间值和所述计数值，获取所述振荡器的时钟频率。

3.如权利要求2所述的测试过程中的芯片检测方法，其特征在于，所述芯片根据所述外部基准时间信号对振荡器输出的时钟信号进行计数得到计数值，将所述计数值发送至检测装置的步骤包括：

芯片在检测到所述外部基准时间信号发生第一次变化时，开始对振荡器输出的时钟信号进行计数；

芯片在检测到所述外部基准时间信号发生第二次变化时，停止对振荡器输出的时钟信号进行计数，输出所述计数值至检测装置。

4.如权利要求2或3所述的测试过程中的芯片检测方法，其特征在于，所述检测装置发送外部基准时间信号至芯片，并利用外部基准时间信号进行计时得到时间值的步骤包括：

检测装置控制所述外部基准时间信号发生第一次变化，并开始计时；

检测装置控制所述外部基准时间信号发生第二次变化，并停止计时且得到所述时间值。

5.如权利要求1-3中任一项所述的测试过程中的芯片检测方法，其特征在于，所述检测装置建立与芯片之间的连接的步骤之后包括：

检测装置获取外部时钟信号源发出的高精度的所述外部基准时间信号，并将所述外部基准时间信号提供给芯片。

6.一种测试过程中的芯片检测系统，其特征在于，包括检测装置，所述检测装置用于：

建立与芯片之间的连接；

在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率；

判断所述振荡器的时钟频率是否在预设频率范围内，若否，则调整所述时钟频率的频率参数并将调整后的所述频率参数存储在芯片内。

7.如权利要求6所述的测试过程中的芯片检测系统，其特征在于，所述检测装置还用于：

利用所述外部基准时间信号进行计时得到时间值；

接收芯片根据所述外部基准时间信号对振荡器输出的时钟信号进行计数得到计数值；

根据所述时间值和所述计数值，获取所述振荡器的时钟频率。

8.如权利要求7所述的测试过程中的芯片检测系统，其特征在于，所述系统还包括芯片，所述芯片用于：

在检测到所述外部基准时间信号发生第一次变化时，开始对振荡器输出的时钟信号进行计数；

在检测到所述外部基准时间信号发生第二次变化时，停止对振荡器输出的时钟信号进行计数，输出所述计数值至检测装置。

9.如权利要求7或8所述的测试过程中的芯片检测系统，其特征在于，所述检测装置还用于：

控制所述外部基准时间信号发生第一次变化，并开始计时；

控制所述外部基准时间信号发生第二次变化，并停止计时且得到所述时间值。

10.如权利要求6-8中任一项所述的测试过程中的芯片检测系统，其特征在于，所述检测装置还用于：

获取外部基准时钟信号源发出的高精度的所述外部时钟信号，并将所述外部基准时钟信号提供给芯片。