[发明专利]测试过程中的芯片检测方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及芯片测试领域，尤其涉及测试过程中的芯片检测方法及系统。

背景技术

芯片中的时钟信号包括两种来源：外部振荡器、内部振荡器。外部振荡器的信号精度高、成本高、体积大，而内部振荡器精度低、成本低、体积小。

对于使用内部振荡器的芯片，由于制造工艺的不稳定，工作环境的差异等原因，在大规模生产该芯片的过程中，其内部振荡器产生的时钟频率会漂移，时钟精度因此不符合要求，而内部振荡器的时钟频率会直接影响芯片的性能，造成不同批次的产品性能出现差异，因此，在芯片大规模生产中，其内部振荡器时钟频率不符合要求，从而造成各批次芯片的性能差异的问题亟待解决。

上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

发明内容

本发明的主要目的在于提供测试过程中的芯片检测方法及系统，旨在在检测过程中，对芯片的内部振荡器的时钟频率进行检测，以防止内部振荡器的时钟频率不符合要求从而造成各批次芯片的性能差异。

为实现上述目的，本发明实施例提供的测试过程中的芯片检测方法，包括以下步骤：

检测装置建立与芯片之间的连接；

检测装置在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率；

检测装置判断所述振荡器的时钟频率是否在预设频率范围内，若否，则调整所述时钟频率的频率参数并将调整后的所述频率参数存储在芯片内。

优选地，所述检测装置在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率的步骤包括：

检测装置利用所述外部基准时间信号进行计时得到时间值；

检测装置接收芯片根据所述外部基准时间信号对振荡器输出的时钟信号进行计数得到计数值；

检测装置根据所述时间值和所述计数值，获取所述振荡器的时钟频率。

优选地，所述芯片根据所述外部基准时间信号对振荡器输出的时钟信号进行计数得到计数值，将所述计数值发送至检测装置的步骤包括：

芯片在检测到所述外部基准时间信号发生第一次变化时，开始对振荡器输出的时钟信号进行计数；

芯片在检测到所述外部基准时间信号发生第二次变化时，停止对振荡器输出的时钟信号进行计数，输出所述计数值至检测装置。

优选地，所述检测装置发送外部基准时间信号至芯片，并利用外部基准时间信号进行计时得到时间值的步骤包括：

检测装置控制所述外部基准时间信号发生第一次变化，并开始计时；

检测装置控制所述外部基准时间信号发生第二次变化，并停止计时且得到所述时间值。

优选地，所述检测装置建立与芯片之间的连接的步骤之后包括：

检测装置获取外部时钟信号源发出的高精度的所述外部基准时间信号，并将所述外部基准时间信号提供给芯片。

本发明实施例进一步提供的测试过程中的芯片检测系统，包括检测装置，所述检测装置用于：

建立与芯片之间的连接；

在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率；

判断所述振荡器的时钟频率是否在预设频率范围内，若否，则调整所述时钟频率的频率参数并将调整后的所述频率参数存储在芯片内。

优选地，所述检测装置还用于：

利用所述外部基准时间信号进行计时得到时间值；

接收芯片根据所述外部基准时间信号对振荡器输出的时钟信号进行计数得到计数值；

根据所述时间值和所述计数值，获取所述振荡器的时钟频率。

优选地，所述系统还包括芯片，所述芯片用于：

在检测到所述外部基准时间信号发生第一次变化时，开始对振荡器输出的时钟信号进行计数；

在检测到所述外部基准时间信号发生第二次变化时，停止对振荡器输出的时钟信号进行计数，输出所述计数值至检测装置。

优选地，所述检测装置还用于：

控制所述外部基准时间信号发生第一次变化，并开始计时；

控制所述外部基准时间信号发生第二次变化，并停止计时且得到所述时间值。

优选地，所述检测装置还用于：

获取外部基准时钟信号源发出的高精度的所述外部时钟信号，并将所述外部基准时钟信号提供给芯片。