[发明专利]一种紫外发光二极管器件的制备方法有效
申请号: | 201410183522.X | 申请日: | 2014-04-30 |
公开(公告)号: | CN103956414B | 公开(公告)日: | 2017-03-08 |
发明(设计)人: | 张韵;孙莉莉;闫建昌;王军喜;李晋闽 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L33/32 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 曹玲柱 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种紫外发光二极管器件的制备方法。该紫外发光二极管器件制备方法中,pn结台面的材料均为AlxGa1‑xN材料,其中0≤x≤1,且有源区中Al组分最低,即整个发光二极管pn结台面结构对有源区发出的光是透明的。因此本发明的紫外发光二极管结构解决了p型GaN层吸收紫外光的问题,可以有效提高紫外发光二极管的发光效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 紫外 发光二极管 器件 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种紫外发光二极管器件的制备方法,其特征在于,包括:步骤A:在基底(301)上生长紫外发光二极管外延结构,该紫外发光二极管外延结构自下而上包括AlN缓冲层(302)、p型AlGaN层(303)、AlGaN电子阻挡层(304)、AlGaN有源区(305)、n型AlGaN层(306);步骤B:从所述n型AlGaN层(306)顶部开始,在预设区域进行刻蚀,刻蚀至所述p型AlGaN层(303),从而在刻蚀区域形成p型AlGaN表面(308),而在刻蚀区域之外的所述p型AlGaN层(303)上形成pn结台面结构(307);步骤C:在所述p型AlGaN表面(308)和pn结台面结构(307)的表面沉积介质层(309),并在p型AlGaN表面(308)上形成贯穿所述介质层(309)的通孔(310);步骤D:在所述p型AlGaN表面(308)上,利用所述介质层(309)做掩膜,在所述通孔(310)内生长p型电极接触层(311);步骤E:去掉全部的介质层(309);步骤F:在发光二极管pn结台面结构(307)上的n型AlGaN电极接触表面,定义出n型电极图形,在该n型电极图形区域形成n型接触电极(312);步骤G:在p型电极接触层(311)表面定义出p型电极图形,在该p型电极图形区域形成p型接触电极(313);步骤H:在器件上表面整体上沉积电绝缘层(314),在该电绝缘层(314)中,所述n型接触电极(312)和p型接触电极(313)的上方,分别形成电极窗口区;以及步骤I:在电极窗口区(315),形成电极层(316),完成紫外发光二极管器件的制作;其中,所述p型AlGaN层(303)、AlGaN电子阻挡层(304)、AlGaN有源区(305)和n型AlGaN层(306)均为AlxGa1‑xN基材料,0≤X≤1,且AlGaN有源区(305)中Al的组分比p型AlGaN层(303)、n型AlGaN层(306)和AlGaN电子阻挡层(304)的Al组分均要低。
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