[发明专利]存储装置和存储管理方法有效
| 申请号： | 201410165842.2 | 申请日： | 2014-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN104134465B | 公开（公告）日： | 2019-07-23 |
| 发明（设计）人： | 小林诚司;久保毅;安井道明;高沢丈晴;后藤尚史 | 申请（专利权）人： | 索尼公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明公开了存储装置和存储管理方法。其中，该存储装置包括：检测单元、存储单元、更新单元和确定单元。检测单元，被配置为检测非易失性存储器的劣化因素；存储单元，被配置为保存寿命推测值；更新单元，被配置为基于由该检测单元所检测的该劣化因素更新该寿命推测值；以及确定单元，被配置为使用由该更新单元所更新的该寿命推测值，以产生通知信号。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 装置 管理 方法 | ||
【主权项】：
1.一种存储装置，包括：检测单元，被配置为检测非易失性存储器的劣化因素，所述劣化因素为所述非易失性存储器的温度；存储单元，被配置为保存基于对所述非易失性存储器的重写次数获得的寿命推测值；更新单元，被配置为基于由所述检测单元所检测的所述劣化因素更新所述寿命推测值；以及确定单元，被配置为使用与所述非易失性存储器的温度相关联的所更新的所述寿命推测值，产生通知信号，其中，当通过计算机访问所述非易失性存储器时，基于对所述非易失性存储器的重写次数确定所述寿命推测值并将所述寿命推测值存储在所述存储单元中，并且当没有所述计算机访问所述非易失性存储器时，基于所检测的所述非易失性存储器的温度更新所述寿命推测值。
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