[发明专利]存储装置和存储管理方法有效
| 申请号： | 201410165842.2 | 申请日： | 2014-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN104134465B | 公开（公告）日： | 2019-07-23 |
| 发明（设计）人： | 小林诚司;久保毅;安井道明;高沢丈晴;后藤尚史 | 申请（专利权）人： | 索尼公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 存储 装置 管理 方法 | ||
1.一种存储装置，包括：
检测单元，被配置为检测非易失性存储器的劣化因素，所述劣化因素为所述非易失性存储器的温度；
存储单元，被配置为保存基于对所述非易失性存储器的重写次数获得的寿命推测值；
更新单元，被配置为基于由所述检测单元所检测的所述劣化因素更新所述寿命推测值；以及
确定单元，被配置为使用与所述非易失性存储器的温度相关联的所更新的所述寿命推测值，产生通知信号，
其中，当通过计算机访问所述非易失性存储器时，基于对所述非易失性存储器的重写次数确定所述寿命推测值并将所述寿命推测值存储在所述存储单元中，并且当没有所述计算机访问所述非易失性存储器时，基于所检测的所述非易失性存储器的温度更新所述寿命推测值。
2.根据权利要求1所述的存储装置，其中，
所述非易失性存储器是半导体存储器。
3.根据权利要求1所述的存储装置，其中，
所述检测单元以预设周期测量所述非易失性存储器的温度。
4.根据权利要求1所述的存储装置，其中，
通过无线通信将所述通知信号传输至外部管理装置。
5.根据权利要求1所述的存储装置，其中，
所述通知信号被用来控制发光元件的发光。
6.根据权利要求1所述的存储装置，其中，
所述非易失性存储器、所述检测单元、所述存储单元、所述更新单元和所述确定单元被存储在便携式的通用的壳体中。
7.根据权利要求1所述的存储装置，进一步包括：
位置检测装置，被配置为在存在被管理的多个非易失性存储器时产生存储位置信息。
8.一种存储管理方法，包括：
由检测单元检测非易失性存储器的劣化因素，所述劣化因素为所述非易失性存储器的温度；
由存储单元保存基于对所述非易失性存储器的重写次数获得的寿命推测值；
由更新单元基于由所述检测单元所检测的所述劣化因素更新所述寿命推测值；以及
由确定单元使用与所述非易失性存储器的温度相关联的所更新的所述寿命推测值来产生通知信号，
其中，当通过计算机访问所述非易失性存储器时，基于对所述非易失性存储器的重写次数确定所述寿命推测值并将所述寿命推测值存储在所述存储单元中，并且当没有所述计算机访问所述非易失性存储器时，基于所检测的所述非易失性存储器的温度更新所述寿命推测值。
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