[发明专利]一种主节点版图中半节点CMP模型的运行方法有效

专利信息
申请号: 201410163106.3 申请日: 2014-04-22
公开(公告)号: CN105095532B 公开(公告)日: 2018-12-21
发明(设计)人: 姜立维;李雪;刘立美 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 北京市磐华律师事务所 11336 代理人: 高伟;冯永贞
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种主节点版图中半节点CMP模型的运行方法及半导体器件制备方法。所述运行方法包括:步骤(a):提供主节点版图;步骤(b):将所述主节点版图划分为若干网格区域,并直接对每个所述网格区域进行几何提取,获取数值信息;步骤(c):将所述数值信息中的几何信息缩小以获取半节点几何信息,根据所述半节点几何信息进行半节点CMP模拟;步骤(d):输出模拟结果数据,并确定所述模拟过程中的缺陷点;步骤(e):在所述主节点版图上对所述缺陷点进行分析;步骤(f):产生版图修改指导规则,并进行修改。本发明所述方法通过调整VCMP方法中的网格尺寸,即通过调整VCMP的模拟分辨率以及工艺缩小因子,来避免两个耗费大量时间的工艺步骤,以提高模拟效率。
搜索关键词: 一种 节点 版图 cmp 模型 运行 方法
【主权项】:
1.一种主节点版图中半节点CMP模型的运行方法,包括:步骤(a):提供主节点版图;步骤(b):将所述主节点版图划分为若干网格区域,并直接对每个所述网格区域进行几何提取,获取数值信息;步骤(c):将所述数值信息中的几何信息缩小以获取半节点几何信息,根据所述半节点几何信息进行半节点CMP模拟;步骤(d):输出CMP模拟结果数据,并确定所述半节点CMP模拟过程中的缺陷点;步骤(e):在所述主节点版图上对所述缺陷点进行分析;步骤(f):产生版图修改指导规则,并进行修改。
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