[发明专利]一种用于双检测器直流塞曼原子吸收的偏振调校方法及装置有效

专利信息
申请号: 201410136156.2 申请日: 2014-04-04
公开(公告)号: CN103940512B 公开(公告)日: 2016-11-09
发明(设计)人: 陈建钢;杨啸涛;刘志高;俞俊良 申请(专利权)人: 上海光谱仪器有限公司
主分类号: G01J3/42 分类号: G01J3/42;G02B26/00
代理公司: 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 代理人: 刘常宝
地址: 201709 上海市青*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种用于双检测器直流塞曼原子吸收的偏振调校方法及装置,该方案利用一绕中心轴转动的偏振棱镜,对调校光源进行分离,让偏振面随偏振棱镜旋转的偏振光沿着原子吸收的光轴进入出口狭缝,并分开其余偏振光;使得双检测器中两个光电倍增管分别得到呈正弦波的光信号,再根据两正弦波的光信号对双检测器直流塞曼原子吸收光学调校,使得两正弦波的光信号谷底为零。本发明能够对双检测器直流塞曼原子吸收过程中的光线偏振进行精确调校,保证检测结果的精确度。
搜索关键词: 一种 用于 检测器 直流 原子 吸收 偏振 调校 方法 装置
【主权项】:
一种用于双检测器直流塞曼原子吸收的偏振调校方法,其特征在于,所述调校方法利用一绕中心轴转动的偏振棱镜,对调校光源进行分离,让偏振面随偏振棱镜旋转的偏振光沿着原子吸收的光轴进入出口狭缝,并分开其余偏振光;使得双检测器中两个光电倍增管分别得到呈正弦波的光信号,再根据两正弦波的光信号对双检测器直流塞曼原子吸收光学调校,使得两正弦波的光信号谷底为零,通过观察该谷值是否为零来实现对双检测器塞曼原子吸收光学调校。
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