[发明专利]一种用于双检测器直流塞曼原子吸收的偏振调校方法及装置

权利要求书

1.一种用于双检测器直流塞曼原子吸收的偏振调校方法，其特征在于，所述调校方法利用一绕中心轴转动的偏振棱镜，对调校光源进行分离，让偏振面随偏振棱镜旋转的偏振光沿着原子吸收的光轴进入出口狭缝，并分开其余偏振光；使得双检测器中两个光电倍增管分别得到呈正弦波的光信号，再根据两正弦波的光信号对双检测器直流塞曼原子吸收光学调校，使得两正弦波的光信号谷底为零。

2.根据权利要求1所示的一种用于双检测器直流塞曼原子吸收的偏振调校方法，其特征在于，所述两个光信号相位差180度。

3.根据权利要求1或2所示的一种用于双检测器直流塞曼原子吸收的偏振调校方法，其特征在于，所述偏振棱镜带动进入出口狭缝的偏振光的偏振面转动时，当偏振面垂直于磁场方向时，进入出口狭缝的偏振光全部进入第一光电倍增管，而第二光电倍增管检测到的光信号为零；当偏振面平行于磁场方向时，进入出口狭缝的偏振光应该全部进入第二光电倍增管，而第一光电倍增管检测到的光信号为零。

4.一种用于双检测器直流塞曼原子吸收的偏振调校装置，其特征在于，所述装置包括：

空心马达；

偏振棱镜，所述偏振棱镜同轴安置在空心马达的空心转子中；

光源，所述光源通过同轴安置空心马达中的偏振棱镜的中心轴对准双检测器塞曼原子吸收的出口狭缝，并与原子吸收光轴重合。

5.根据权利要求4所述的一种用于双检测器直流塞曼原子吸收的偏振调校装置，其特征在于，所述偏振棱镜为罗匈棱镜。

6.根据权利要求4所述的一种用于双检测器直流塞曼原子吸收的偏振调校装置，其特征在于，所述光源为激光器。