[发明专利]全自动光插回损测试仪及测试方法无效
| 申请号： | 201410132955.2 | 申请日： | 2014-04-03 |
| 公开（公告）号： | CN103916180A | 公开（公告）日： | 2014-07-09 |
| 发明（设计）人： | 周永军 | 申请（专利权）人： | 镇江奥菲特光电科技有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/071 | 分类号： | H04B10/071 |
| 代理公司： | 镇江京科专利商标代理有限公司 32107 | 代理人： | 夏哲华 |
| 地址： | 212132 江苏省镇*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种全自动光插回损测试仪及测试方法。它包括中央处理器，中央处理器分别通过一个1310nm光发射模块和一个1550nm光发射模块连接波分复用器；波分复用器信号的输出端连接光分路器，光分路器的输出端连接到被测跳线的前端面上，光分路器的回损信号端连接回损测试模块；回损测试模块与中央处理器之间进行信息传输，还包括一个能够提供时间基准的钟芯片，钟芯片分别与回损测试模块和中央处理器连接为它们提供基准时间。采用上述的结构及方法后，实现了同时测试光纤跳线在1310nm和1550nm两个波长的光学性能；可以将不同端面的反射值区分开，就达到了免于光纤缠绕的目的，其测试方便可靠，即避免了光纤在测试时受伤，又极大地提升产品测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 全自动 光插回损 测试仪 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种全自动光插回损测试仪，其特征在于：包括中央处理器，中央处理器分别通过一个1310nm光发射模块和一个1550nm光发射模块连接波分复用器；所述波分复用器信号的输出端连接光分路器，光分路器的输出端连接到被测跳线的前端面上，所述光分路器的回损信号端连接回损测试模块；回损测试模块与中央处理器之间进行信息传输，还包括一个能够提供时间基准的钟芯片，钟芯片分别与回损测试模块和中央处理器连接为它们提供基准时间。
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