[发明专利]全自动光插回损测试仪及测试方法

说明书

 

技术领域

    本发明涉及一种用于光纤连接器测试的设备，具体地说是一种全自动光插回损测试仪及测试方法，属于光纤通信技术领域。

背景技术

光纤通信具有信号稳定、损耗小、传输距离长、容量高等多方面优点，已在各国现代通信网络建设中广泛采用备。当前，我国的光纤通信网络建设迅猛，三大运营商及广电系统都确定了“加快光进铜退、推进接入网战略转型”的思路。光纤活动连接器和光纤一样，属于光纤通信网络中最基本的组成部分，在光纤通信网络中具有巨大的需求量。国家的相关主管部门针对光纤活动连接器也制定了多项行业标准，对其性能指标作出了具体的规定。行业标准规定，光纤活动连接器出厂前的光学性能检验项目为插入损耗和回波损耗。

光纤连接器生产厂家出厂检验主要是利用插损回损测试仪来检测光纤连接器的性能指标。目前市场上的插损回损测试仪在测试光纤连接器回损的时候，需要对光纤进行缠绕，以消除光纤连接器后端端面的光反射影响，由此测试过程中容易对光纤造成损伤，而且测试时每次只能测试一个波长的数据，测试效率也比较低下。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种既能避免对光纤造成损伤又能实现两个工作波长的同时测试的全自动光插回损测试仪及测试方法。

为了解决上述技术问题，本发明的全自动光插回损测试仪，包括中央处理器，中央处理器分别通过一个1310nm光发射模块和一个1550nm光发射模块连接波分复用器；波分复用器信号的输出端连接光分路器，光分路器的输出端连接到被测跳线的前端面上，光分路器的回损信号端连接回损测试模块；回损测试模块与中央处理器之间进行信息传输，还包括一个能够提供时间基准的钟芯片，钟芯片分别与回损测试模块和中央处理器连接为它们提供基准时间。

所述被测跳线的后端面连接插损测试模块，插损测试模块与中央处理器连接；

所述光分路器通过接头和测试线连接被测跳线的前端面。

一种上述全自动光插回损测试仪的测试方法，包括以下步骤：

A、中央处理器控制1310nm光发射模块和1550nm光发射模块轮流发射脉冲信号，同时时钟芯片记录时间进行同步；

B、回损测试模块与1310nm光发射模块和1550nm光发射模块波长联动，记录返回的菲涅尔反射；

C、回损测试模块通过与时钟芯片的同步，将不同端面的反射值区分开。

一种上述全自动光插回损测试仪的测试方法，包括以下步骤：

A、中央处理器控制1310nm光发射模块和1550nm光发射模块轮流发射脉冲信号，同时时钟芯片记录时间进行同步；

B、回损测试模块、插损测试模块与1310nm光发射模块和1550nm光发射模块波长联动，记录返回的菲涅尔反射；

C、回损测试模块通过与时钟芯片的同步，将不同端面的反射值区分开。

采用上述的结构及方法后，1310nm光发射模块和1550nm光发射模块的发射信号能够通过波分复用器传输到光分路器，经过接头和测试线到被测跳线的前端面，CPU连接回损测试模块，回损测试模块还经过时钟芯片到CPU，一方面，可通过与CPU联动的方式，轮流发射1310nm、1550nm脉冲信号，同时进行1310nm和1550nm波长的测试，实现了同时测试光纤跳线在1310nm和1550nm两个波长的光学性能；另外一方面，可以通过时钟芯片提供时间基准，回损测试模块记录返回的菲涅尔反射，回损测试模块通过与时钟芯片的同步，可以将不同端面的反射值区分开，就达到了免于光纤缠绕的目的，其测试方便可靠，即避免了光纤在测试时受伤，又极大地提升产品测试效率。

附图说明

    图1为本发明全自动光插回损测试仪的原理框图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式，对本发明的全自动光插回损测试仪及测试方法作进一步详细说明。

如图所示，本发明的全自动光插回损测试仪，包括中央处理器（CPU），中央处理器分别通过一个1310nm光发射模块和一个1550nm光发射模块连接波分复用器（WDM）；波分复用器信号的输出端连接分路器（高回损光分路器），高回损光分路器的输出端通过FC/APC接头和测试线连接到被测跳线的前端面上，高回损光分路器的回损信号端连接回损测试模块；回损测试模块与中央处理器之间进行信息传输，还包括一个能够提供时间基准的钟芯片，钟芯片分别与回损测试模块和中央处理器连接为它们提供基准时间。