[发明专利]全自动光插回损测试仪及测试方法

权利要求书

1.一种全自动光插回损测试仪，其特征在于：包括中央处理器，中央处理器分别通过一个1310nm光发射模块和一个1550nm光发射模块连接波分复用器；所述波分复用器信号的输出端连接光分路器，光分路器的输出端连接到被测跳线的前端面上，所述光分路器的回损信号端连接回损测试模块；回损测试模块与中央处理器之间进行信息传输，还包括一个能够提供时间基准的钟芯片，钟芯片分别与回损测试模块和中央处理器连接为它们提供基准时间。

2.按照权利要求1所述的全自动光插回损测试仪，其特征在于：所述被测跳线的后端面连接插损测试模块，插损测试模块与中央处理器连接。

3.按照权利要求1所述的全自动光插回损测试仪，其特征在于：所述光分路器通过接头和测试线连接被测跳线的前端面。

4.一种如权利要求1所述全自动光插回损测试仪的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

A、中央处理器控制1310nm光发射模块和1550nm光发射模块轮流发射脉冲信号，同时时钟芯片记录时间进行同步；

B、回损测试模块与1310nm光发射模块和1550nm光发射模块波长联动，记录返回的菲涅尔反射；

C、回损测试模块通过与时钟芯片的同步，将不同端面的反射值区分开。

5.一种如权利要求2所述全自动光插回损测试仪的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

A、中央处理器控制1310nm光发射模块和1550nm光发射模块轮流发射脉冲信号，同时时钟芯片记录时间进行同步；

B、回损测试模块、插损测试模块与1310nm光发射模块和1550nm光发射模块波长联动，记录返回的菲涅尔反射；

C、回损测试模块通过与时钟芯片的同步，将不同端面的反射值区分开。