[发明专利]提升ITO层空穴注入效率的方法和显示器件的阳极结构在审

专利信息
申请号: 201410070215.0 申请日: 2014-02-27
公开(公告)号: CN103824975A 公开(公告)日: 2014-05-28
发明(设计)人: 孙一歌;康嘉滨;鲁海生;胡友元 申请(专利权)人: 上海和辉光电有限公司
主分类号: H01L51/56 分类号: H01L51/56;H01L51/52;H01L51/54
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 吴俊
地址: 201506 上海市金山*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种提升ITO层空穴注入效率的方法和显示器件的阳极结构,所述方法应用于显示器件的阳极制作工艺中,包括:提供一预设有ITO区域的半导体结构;在位于所述ITO区域的半导体结构的上表面制备一ITO层;对所述ITO层进行预热后,于该ITO层的表面制备氧化石墨烯薄膜。所述阳极结构包括一具有ITO层的衬底结构,且该ITO层的上表面覆盖有一层氧化石墨烯。本发明方法通过在普通的ITO层上制备一层氧化石墨烯,形成新的阳极结构,使得ITO层的功函数增加,提升了空穴的注入效率,降低了驱动电压,进而能够增加显示器件的稳定性和使用寿命。
搜索关键词: 提升 ito 空穴 注入 效率 方法 显示 器件 阳极 结构
【主权项】:
一种提升ITO空穴注入效率的方法,应用于显示器件的阳极制作工艺中,所述方法包括:提供一预设有ITO区域的半导体结构;在位于所述ITO区域的半导体结构的上表面制备一ITO层;对所述ITO层进行预热;于该ITO层的表面制备氧化石墨烯薄膜。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海和辉光电有限公司,未经上海和辉光电有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410070215.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top