[发明专利]存储芯片测试机在审
| 申请号： | 201410047830.X | 申请日： | 2014-02-11 |
| 公开（公告）号： | CN103886917A | 公开（公告）日： | 2014-06-25 |
| 发明（设计）人： | 缪家戌 | 申请（专利权）人： | 成都科创佳思科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610000 四川省成都*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种存储芯片测试机，包括下承载台，下承载台两侧开有透光孔，下承载台表面安装有测试盘，测试盘与下承载台之间采用可旋转连接，测试盘上开有数个放置槽，测试盘上还安装有测试座，测试座为两个，且测试座与测试盘电连接，且两测试座之间通过检测条连接，检测条不止一个，其中一检测条中部安装有红外线检测装置，红外线检测装置输入端与检测条输出端电连接。本存储芯片测试机能将存储器芯片测试机的测试区一次对齐所有芯片，方便同一时间做检测，其减少了大量的检测时间，且检测效率高，检测结果更加精准，同时不容易产生漏光现象。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 芯片 测试 | ||
【主权项】：
一种存储芯片测试机，包括下承载台，其特征在于：下承载台两侧开有透光孔，下承载台表面安装有测试盘，测试盘与下承载台之间采用可旋转连接，测试盘上开有数个放置槽，测试盘上还安装有测试座，测试座为两个，且测试座与测试盘电连接，且两测试座之间通过检测条连接，检测条不止一个，其中一检测条中部安装有红外线检测装置，红外线检测装置输入端与检测条输出端电连接，两测试座上端安装有图形采集装置，图形采集装置内设有探针，探针输出端与图形采集装置输入端电连接，还包括倒桩LED芯片，倒桩LED芯片位于图形采集装置及探针中部，图形采集装置上设有上承载台，上承载台上安装有支撑脚，支撑脚上安装有三轴驱动装置，三轴驱动装置与支撑脚引脚电连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都科创佳思科技有限公司，未经成都科创佳思科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410047830.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：定排量内啮合齿轮泵结构
- 下一篇：一种热循环负压软磁铁氧体磁芯烧结钟罩窑
