[发明专利]存储芯片测试机在审
| 申请号： | 201410047830.X | 申请日： | 2014-02-11 |
| 公开（公告）号： | CN103886917A | 公开（公告）日： | 2014-06-25 |
| 发明（设计）人： | 缪家戌 | 申请（专利权）人： | 成都科创佳思科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610000 四川省成都*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 存储 芯片 测试 | ||
【权利要求书】：
1.一种存储芯片测试机，包括下承载台，其特征在于：下承载台两侧开有透光孔，下承载台表面安装有测试盘，测试盘与下承载台之间采用可旋转连接，测试盘上开有数个放置槽，测试盘上还安装有测试座，测试座为两个，且测试座与测试盘电连接，且两测试座之间通过检测条连接，检测条不止一个，其中一检测条中部安装有红外线检测装置，红外线检测装置输入端与检测条输出端电连接，两测试座上端安装有图形采集装置，图形采集装置内设有探针，探针输出端与图形采集装置输入端电连接，还包括倒桩LED芯片，倒桩LED芯片位于图形采集装置及探针中部，图形采集装置上设有上承载台，上承载台上安装有支撑脚，支撑脚上安装有三轴驱动装置，三轴驱动装置与支撑脚引脚电连接。
2.根据权利要求1所述的存储芯片测试机，其特征在于：所述支撑脚与上承载台之间采用固定连接。
3.根据权利要求1所述的存储芯片测试机，其特征在于：所述检测条上包含至少一导正件。
4.根据权利要求1所述的存储芯片测试机，其特征在于：所述检测条上包含多个检测点。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都科创佳思科技有限公司，未经成都科创佳思科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410047830.X/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：定排量内啮合齿轮泵结构
- 下一篇：一种热循环负压软磁铁氧体磁芯烧结钟罩窑
