[发明专利]发光二极管结温检测装置及其检测方法有效
| 申请号： | 201410037358.1 | 申请日： | 2014-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN103759847A | 公开（公告）日： | 2014-04-30 |
| 发明（设计）人： | 胡益民;佘露;刘岩;敬刚;张志甜;刘淮源;陆兆隆;曹鸣皋;袁文龙;肖文鹏;梁荣;丁钊;曹广忠;汤皎宁;张超;朱惠忠 | 申请（专利权）人： | 深圳清华大学研究院 |
| 主分类号： | G01K7/00 | 分类号： | G01K7/00 |
| 代理公司： | 深圳市鼎言知识产权代理有限公司 44311 | 代理人： | 孔丽霞 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山区高*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种发光二极管结温检测装置，包括：驱动模块，用以向发光二极管提供正常工作时所需的工作电流；测试恒流源模块，用以向所述发光二极管提供测试电流I和I+ΔI；微处理器模块，用以控制所述驱动模块与所述测试恒流源模块分时向所述发光二极管提供电流；压降检测模块，用以检测所述发光二极管在测试电流为I和I+ΔI时的电压降；以及一数据处理模块，根据所述压降检测模块检测得到的测试电流为I和I+ΔI时的电压降的差值计算得到发光二极管的结温。本发明涉及采用这种发光二极管结温检测装置检测发光二极管结温的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 发光二极管 检测 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种发光二极管结温检测装置，包括：驱动模块，用以向发光二极管提供工作电流；测试恒流源模块，用以向所述发光二极管提供测试电流I和I+ΔI；微处理器模块，用以控制所述驱动模块与所述测试恒流源模块分时向所述发光二极管提供电流；压降检测模块，用以检测所述发光二极管在测试电流为I和I+ΔI时的电压降；以及数据处理模块，用以根据所述压降检测模块检测得到的测试电流为I和I+ΔI时的电压降的差值得到发光二极管的结温。
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