[发明专利]发光二极管结温检测装置及其检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种发光二极管检测装置，尤其涉及一种发光二极管结温检测装置及其检测方法。

背景技术

发光二极管（Light-emitting Diode）固体光源具有效率高、寿命长等优点，目前已广泛应用于照明领域。在发光二极管所消耗的电能中，多数被转化成了热能，并导致芯片温度明显升高。而发光二极管PN结温度（以下简称结温）的变化直接影响到发光二极管产品的性能及其使用寿命。因此如何精确地测量发光二极管结温从而控制其升温范围对提高发光二极管产品的性能稳定和使用寿命具有极其重要的作用。

通常的发光二极管检测装置，在不考虑发光二极管自身发热影响（将发光二极管的内阻视为0）的前提下，利用特定电流下发光二极管的正向电压降与发光二极管结温近似成线性关系的原理进行测量。

然而，上述方法中，为了保证电压测量的稳定，通常需要较大的电流流过发光二极管，而上述方法忽略了该较大的测试电流通过发光二极管（内阻）时不可避免的自发热现象对发光二极管结温的影响，从而导致测量结果出现偏差。

发明内容

有鉴于此，有必要提供一种精度较高的发光二极管结温检测装置及其检测方法。

一种发光二极管结温检测装置，包括：驱动模块，用以向发光二极管提供工作电流；测试恒流源模块，用以向所述发光二极管提供测试电流I和I+ΔI；微处理器模块，用以控制所述驱动模块与所述测试恒流源模块分时向所述发光二极管提供电流；压降检测模块，用以检测所述发光二极管在测试电流为I和I+ΔI时的电压降；以及数据处理模块，用以根据所述压降检测模块检测得到的测试电流为I和I+ΔI时的电压降的差值得到发光二极管的结温。

一种采用发光二极管结温检测装置检测发光二极管结温的方法，所述发光二极管结温检测装置包括驱动模块、测试恒流源模块、微处理器模块、压降检测模块以及数据处理模块，该方法包括：

所述微处理器模块控制所述驱动模块向一发光二极管提供工作电流以使得所述发光二极管工作在稳定状态；

所述微处理器模块快速切断驱动模块供给在发光二极管上的工作电流，并控制测试恒流源模块向所述发光二极管供给测试电流I；

所述微处理器模块发出脉冲宽度调制信号以控制所述测试恒流源模块向所述发光二极管提供测试电流I+ΔI；

所述压降检测模块检测在测试电流I和I+ΔI通过发光二极管时发光二极管两端的电压降；

所述数据处理模块依据压降检测模块检测到的测试电流I和I+ΔI通过发光二极管时发光二极管两端的电压降的差值得到发光二极管的结温。

与现有技术相比，本发明的发光二极管结温检测装置及其检测方法中，考虑了发光二极管自身的发热现象对其结温的影响，通过检测得到的测试电流I和I+ΔI下的发光二极管两端的电压降差值来确定发光二极管的结温，减小了发光二极管在较大的测试电流下发热现象对结温测试的影响，提高了测试的精度。

附图说明

图1是本发明一实施例中的发光二极管结温检测装置的电路方框图。

图2为本发明另一实施例中的发光二极管结温检测装置的电路方框图。

图3为图1所述的发光二极管检测装置中的测试恒流源模块与微处理器模块、发光二极管以及压降检测模块之间的电路连接示意图。

主要元件符号说明