[其他]用于确定解剖学测点的测量工具有效
| 申请号： | 201390000428.5 | 申请日： | 2013-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN204233129U | 公开（公告）日： | 2015-04-01 |
| 发明（设计）人： | O·里基南;J·卡贾莱南;W·胡亚南;S·派蒂凯南 | 申请（专利权）人： | 骨指数芬兰公司 |
| 主分类号： | A61B5/107 | 分类号： | A61B5/107 |
| 代理公司： | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 | 代理人： | 谭彦闻;胡强 |
| 地址： | 芬兰库*** | 国省代码： | 芬兰;FI |
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| 摘要： | 一种用于确定解剖学测点的测量工具(200)，包括对准点(101)和第一刻度(102)，该对准点用于使测量头的第一端与第一解剖学基准部位对准，该第一刻度用于从多个候选基准测点(102a-102c)中确定所述第一刻度的第一基准测点，所述第一基准测点对应于另一个解剖学基准部位。此外，该测量工具(200)包括第二刻度(103)，该第二刻度对应于所述第一刻度(102)并且包括用于确定所述解剖学测点的、至少与所述基准测点匹配的测点(103a-103c)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 解剖学 测量 工具 | ||
【主权项】：
一种用于确定解剖学测点的测量工具(100、200)，其特征在于，所述测量工具包括： ‑对准点(101)，其用于使测量头的第一端与第一解剖学基准部位对准， ‑第一刻度(102)，其用于借助所述第一刻度从多个候选基准测点(102a‑102c)中确定第一基准测点，所述第一基准测点对应于另一个解剖学基准部位，以及 ‑第二刻度(103)，其对应于所述第一刻度(102)并且包括用于确定所述解剖学测点的、至少与所述基准测点匹配的测点(103a‑103c)。
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