[其他]用于确定解剖学测点的测量工具有效

专利信息
申请号: 201390000428.5 申请日: 2013-04-23
公开(公告)号: CN204233129U 公开(公告)日: 2015-04-01
发明(设计)人: O·里基南;J·卡贾莱南;W·胡亚南;S·派蒂凯南 申请(专利权)人: 骨指数芬兰公司
主分类号: A61B5/107 分类号: A61B5/107
代理公司: 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 代理人: 谭彦闻;胡强
地址: 芬兰库*** 国省代码: 芬兰;FI
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摘要:
搜索关键词: 用于 确定 解剖学 测量 工具
【说明书】:

技术领域

发明涉及用于确定解剖学测点的测量工具,例如测量带。 

背景技术

确切测点的确定对于可靠和可比较地实施各种医学测量而言是非常重要的。例如在骨质疏松症的确定中,必须对不同患者总是从相同的解剖学部位进行超声波测量或类似手段。不同患者之间相互的尺寸差异导致不精确,因而相互间共同的解剖学测量部位的确定往往是困难、冗长和不准确的过程。由于不精确性,测量结果彼此之间不一定可比较。 

发明内容

本发明的一个目的是避免或至少减少与该现有技术有关的缺点。根据一个实施例,本发明试图提供这样的工具,其能够不仅对于同一个患者而且对于具有不同尺寸的多个患者而言以在解剖学上可比较的方式精确和快速地重复确定解剖学测点。 

本发明的一些目的通过本发明的测量工具实现。 

本发明的用于确定解剖学测点的测量工具的特征在于如本发明所限定的测量工具。 

根据本发明的第一实施例,测量工具最优选是细长物品并且包括对准点,测量头的第一端通过该对准点能够与患者的第一解剖学基准部位对准。这种第一解剖学基准部位例如可以是胫骨的最下端或尺骨的近端。测量工具还包括纵长形的第一刻度,该第一刻度继而包括多个用于第二解剖学基准部位的候选基准测点。当测量工具被放置在患者皮肤上的待测量部位从而使得第一端与患者的第一解剖学基准部位对准时,被从候选基准测点中选定用作基准测点的点将是这样的点,其与该特定的患者的另一个解剖学基准部位例如胫骨的最上端或肘部的末端对准。 

再者,测量工具包括纵长形的第二刻度,该第二刻度对应于纵长形的第一刻度并且包括多个候选测点,从而使得所述候选测点中的至少一个与所述选定的基准测点匹配。当使用本发明的测量工具时,解剖学测点将通过与所述选定的基准测点匹配的第二刻度测点来确定。就其位置和/或长度而言,第二刻度最优选与所述第一刻度具有特定的关系,由此当患者的尺寸变化时,由测量工具的第二刻度确定的测点的部位还被配置成与患者的解剖学尺寸成比例。 

本发明的测量工具例如是带尺,其中所述刻度印刷或叠置在其上或者通过其它本领域技术人员熟知的方法制造出。带尺最优选是测量条带,其包括在其一个面上的粘接表面并且优选是一次性的并因而非常卫生。或者,测量工具还可以是测量丝带或测量杆或类似的装置。 

此外,根据本发明的一个实施例,所述测量工具,最优选是带尺或测量丝带,可以被纳入到包括多个测量工具的物品中,例如被纳入到包括多个带式测量工具的卷中。例如,包括本发明的带尺的带卷是特别有益的,因为带尺能够被更容易地储存,以及被保护以例如免受尘土而且被容易和方便地收卷和使用。 

附图说明

在下一部分中将参照附图更精确地描述本发明的优选实施例,其中: 

图1示出根据本发明的一个优选实施例的一个示例性测量工具,以及 

图2示出根据本发明的一个优选实施例的另一个示例性测量工具。 

具体实施方式

图1和图2示出本发明的测量工具100、200的一些实例。测量工具100、200包括对准点101和第一刻度102,该对准点用于使测量头的第一端与解剖学基准部位对准,该第一刻度继而包括用于第二解剖学基准部位的多个候选基准测点102a-102c。此外,测量工具100、200包括第二刻度103,该第二刻度对应于第一刻度102和包括多个候选测点103a-103c,从而多个候选测点103a-103c中的一个总是与一个基准测点匹配(基准点102a与测点103a匹配,基准点102b与测点103b匹配,等等)。实际测点借助于由第二解剖学部位确定的基准测点而可被选定,如本文其它部分所述。例如,如果第二解剖学部位与第一刻度的候选基准测点102b对准,那么从第二刻度的候选测点中选定的测点将是103b,此时应在该测点处实施所述测量。 

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