[其他]用于确定解剖学测点的测量工具有效
| 申请号: | 201390000428.5 | 申请日: | 2013-04-23 |
| 公开(公告)号: | CN204233129U | 公开(公告)日: | 2015-04-01 |
| 发明(设计)人: | O·里基南;J·卡贾莱南;W·胡亚南;S·派蒂凯南 | 申请(专利权)人: | 骨指数芬兰公司 |
| 主分类号: | A61B5/107 | 分类号: | A61B5/107 |
| 代理公司: | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 | 代理人: | 谭彦闻;胡强 |
| 地址: | 芬兰库*** | 国省代码: | 芬兰;FI |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 确定 解剖学 测量 工具 | ||
1.一种用于确定解剖学测点的测量工具(100、200),其特征在于,所述测量工具包括:
-对准点(101),其用于使测量头的第一端与第一解剖学基准部位对准,
-第一刻度(102),其用于借助所述第一刻度从多个候选基准测点(102a-102c)中确定第一基准测点,所述第一基准测点对应于另一个解剖学基准部位,以及
-第二刻度(103),其对应于所述第一刻度(102)并且包括用于确定所述解剖学测点的、至少与所述基准测点匹配的测点(103a-103c)。
2.如权利要求1所述的测量工具,其特征在于,所述测量工具包括第三刻度(104),该第三刻度对应于所述第一刻度(102)并且包括用于确定另一个解剖学测点的、至少与所述基准测点匹配的测点(104a-104c)。
3.如权利要求2所述的测量工具,其特征在于,所述第二和/或第三刻度包括多个候选测点,该多个候选测点中的每一个均被配置成与所述第一刻度的第一候选基准测点中的一个相匹配。
4.如权利要求2或3所述的测量工具,其特征在于,所述第二刻度(103)具有位于从所述对准点(101)至所述第一刻度(102)的起始点(102i)的距离的1/3处的起始点(103i),而所述第三刻度(104)具有从所述对准点(101)至所述第一刻度(102)的起始点(102i)的距离的2/3处的起始点(104i),和/或所述第二刻度的长度为所述第一刻度的长度的1/3和/或所述第三刻度的长度为所述第一刻度的长度的2/3。
5.如权利要求1至3中任一项所述的测量工具,其特征在于,所述测量工具是带尺,测量丝带或测量杆。
6.如权利要求1至3中任一项所述的测量工具,其特征在于,所述测量工具是在其一个面上具有粘接表面的带尺。
7.一种包括多个如权利要求1至6中任一项所述的测量工具的物品。
8.如权利要求7所述的物品,其特征在于,所述物品是包括多个带式测量工具的卷。
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