[发明专利]半导体装置的制造方法、半导体装置有效
申请号: | 201380078021.9 | 申请日: | 2013-07-04 |
公开(公告)号: | CN105359262B | 公开(公告)日: | 2019-02-19 |
发明(设计)人: | 猪之口诚一郎;爱甲光德;荒木慎太郎;辻夏树 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;H01L23/48;H01L25/07;H01L25/18 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 何立波;张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 将半导体元件(14、16)固定于基板(12),将具有框体、信号端子(T4-T7)、宽度比该信号端子宽的主端子(T2、B5)、以及虚设端子(T1、T3、T8、T9、R1-R18、L1-L18、B 1-B4、B6-B8)的端子集合体的该信号端子和该主端子与该半导体元件电连接,形成该基板、该半导体元件、以及该端子集合体进行了一体化的被封装体。将在下模具形成的多个块体与该信号端子、该主端子、以及该虚设端子以无间隙的方式啮合,将该被封装体载置于该下模具。然后,将上模具的下表面无间隙地重叠在该多个块体的上表面、该信号端子的上表面、该主端子的上表面、以及该虚设端子的上表面,形成对该基板和该半导体元件进行收容的空腔,将模塑树脂注入至该空腔。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体装置的制造方法,其特征在于,具备下述工序:将半导体元件固定于基板;将具有框体、信号端子、以及主端子的端子集合体的所述信号端子和所述主端子与所述半导体元件电连接,形成所述基板、所述半导体元件、以及所述端子集合体进行了一体化的被封装体,其中,该信号端子与所述框体的内侧连接,该主端子与所述框体的内侧连接并且宽度比所述信号端子宽,该主端子形成有开口;搭载工序,在该工序中,将在下模具形成的多个块体与所述信号端子以及所述主端子以无间隙的方式啮合,将在形成于所述主端子的所述开口收容有所述多个块体中的至少1个块体的所述被封装体载置于所述下模具;在所述搭载工序之后,将上模具的下表面无间隙地重叠在所述多个块体的上表面、所述信号端子的上表面、以及所述主端子的上表面,形成对所述基板和所述半导体元件进行收容的空腔;以及模塑工序,在该工序中,将模塑树脂注入至所述空腔。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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