[发明专利]用于集成电路的空闲阶段预测无效
申请号: | 201380067714.8 | 申请日: | 2013-12-16 |
公开(公告)号: | CN104871114A | 公开(公告)日: | 2015-08-26 |
发明(设计)人: | 安古·埃克特;利斯拉塔·曼妮;威廉·L·伯奇;马赫杜·S·S·戈文丹;迈克尔·J·舒尔特 | 申请(专利权)人: | 超威半导体公司 |
主分类号: | G06F1/32 | 分类号: | G06F1/32;G06F13/00 |
代理公司: | 上海胜康律师事务所 31263 | 代理人: | 樊英如;李献忠 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种用于集成电路中的空闲阶段预测的方法和装置。在一个实施方案中,一种集成电路(IC)包括功能单元,其被配置成在活动状态的间隔与空闲状态的间隔之间循环。所述IC还包括预测单元,其被配置成记录针对所述空闲状态的多个间隔的空闲状态持续时间的历史。基于所述空闲状态持续时间的历史,所述预测单元被配置成生成针对所述空闲状态的下一个间隔的持续时间的预测。在多个用途中,功率管理单元可以使用所述预测来确定是否要将所述功能单元置于低功率(例如,休眠)状态。 | ||
搜索关键词: | 用于 集成电路 空闲 阶段 预测 | ||
【主权项】:
一种方法,其包括:使集成电路(IC)的功能单元在活动状态的间隔与空闲状态的间隔之间循环;记录针对所述空闲状态的多个间隔的空闲状态持续时间的历史;以及基于所述空闲状态持续时间的历史来预测所述空闲状态的下一个间隔的持续时间。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于超威半导体公司,未经超威半导体公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201380067714.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。