[发明专利]用于集成电路的空闲阶段预测无效

专利信息
申请号: 201380067714.8 申请日: 2013-12-16
公开(公告)号: CN104871114A 公开(公告)日: 2015-08-26
发明(设计)人: 安古·埃克特;利斯拉塔·曼妮;威廉·L·伯奇;马赫杜·S·S·戈文丹;迈克尔·J·舒尔特 申请(专利权)人: 超威半导体公司
主分类号: G06F1/32 分类号: G06F1/32;G06F13/00
代理公司: 上海胜康律师事务所 31263 代理人: 樊英如;李献忠
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 用于 集成电路 空闲 阶段 预测
【权利要求书】:

1.一种方法,其包括:

使集成电路(IC)的功能单元在活动状态的间隔与空闲状态的间隔之间循环;

记录针对所述空闲状态的多个间隔的空闲状态持续时间的历史;以及

基于所述空闲状态持续时间的历史来预测所述空闲状态的下一个间隔的持续时间。

2.如权利要求1所述的方法,其还包括将所述空闲状态持续时间的历史细分成多个段,其中将每个段指定为记录特定范围内的空闲状态持续时间实例的计数。

3.如权利要求2所述的方法,其还包括所述多个段存储指示针对所述空闲状态的最近N个间隔的所述空闲状态持续时间的信息。

4.如权利要求3所述的方法,其中所述预测包括计算针对所述空闲状态的所述最近N个间隔的平均持续时间。

5.如权利要求3所述的方法,其中所述预测包括确定所述多个段中哪一个段具有针对所述空闲状态的所述最近N个间隔的最快增长计数。

6.如权利要求3所述的方法,其还包括:

将低于阈值的空闲状态持续时间的实例记录在所述多个段的第一段中;

将高于所述阈值的空闲状态持续时间的实例记录在所述多个段的第二段中;以及

基于所述第一和第二段中哪一个具有其指定范围内较大计数的空闲状态持续时间实例,预测所述空闲状态的所述下一个间隔的持续时间是大于还是小于所述阈值。

7.如权利要求1所述的方法,其还包括基于所述空闲状态持续时间的历史,预测所述活动状态的下一个间隔的持续时间。

8.如权利要求1所述的方法,其还包括基于所述预测下一个空闲状态的持续时间,确定是否要进入低功率状态。

9.如权利要求8所述的方法,其中所述低功率状态是其中从所述功能单元撤除电力的休眠状态。

10.如权利要求9所述的方法,其还包括在进入所述休眠状态之后的预定时间处退出所述休眠状态,其中所述预定时间是基于所述空闲状态的预测持续时间。

11.一种集成电路,其包括;

功能单元,其被配置成在活动状态的间隔与空闲状态的间隔之间循环;以及

预测单元,其被配置成记录针对所述空闲状态的多个间隔的空闲状态持续时间的历史,且还被配置成基于所述空闲状态持续时间的历史来预测所述空闲状态的所述下一个间隔的持续时间。

12.如权利要求11所述的集成电路,其中所述预测单元包括存储单元,所述存储单元被配置成将所述空闲状态持续时间的历史存储在多个段中,其中将每个段指定为记录特定范围内的空闲状态持续时间的计数。

13.如权利要求12所述的集成电路,其中所述存储单元被配置成在所述多个段内存储指示所述空闲状态的最近N个间隔的空闲状态持续时间的信息。

14.如权利要求13所述的集成电路,其中所述预测单元被配置成基于所述空闲状态的所述最近N个间隔的平均持续时间来预测下一个空闲状态的持续时间。

15.如权利要求13所述的集成电路,其中所述预测单元被配置成基于所述多个段中哪一个具有针对所述空闲状态的所述最近N个间隔的最快增长计数来预测所述下一个空闲状态的持续时间。

16.如权利要求13所述的集成电路,其中所述预测单元被配置成:

将低于阈值的空闲状态持续时间的实例记录在所述多个段的第一段中;

将高于所述阈值的空闲状态持续时间的实例记录在所述多个段的第二段中;以及

基于所述第一和第二段中哪一个具有其指定范围内较大计数的空闲状态持续时间实例,预测所述下一个空闲状态的持续时间是大于还是小于所述阈值。

17.如权利要求11所述的集成电路,其中所述预测单元还被配置成基于所述空闲状态持续时间的历史来预测下一个活动状态的持续时间。

18.如权利要求11所述的集成电路,其还包括功率管理单元,所述功率管理单元被配置成基于所述下一个空闲状态的持续时间的预测来确定是否要将所述功能单元置于低功率状态。

19.如权利要求18所述的集成电路,其中所述低功率状态是其中所述功率管理单元从所述功能单元撤除电力的休眠状态。

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